定量分析中的误差与数据处理.pptx

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定量分析中的误差与数据处理;真值(XT)-Truevalue;平均值-Meanvalue

n次测量值的算术平均值虽不是真值,但比单次测量结果更接近真值,它表示一组测定数据的集中趋势。

设样本容量为n,则其平均值为:

当测定次数无限增多时,所得平均值即为总体平均值:

;误差;误差;误差;偏差;偏差;偏差;标准偏差;样本标准偏差s:

n为有限次时,;例子;例题;平均值的标准偏差;平均值的标准偏差是相对于单次测量标准偏差而言的,在随机误差正态分布曲线中作为标准来描述其分散程度:

在一定测量条件下(真值未知),对同一被测几何量进行多组测量(每组皆测量N次),则对应每组N次测量都有一个算术平均值,各组的算术平均值不相同。不过,它们的分散程度要比单次测量值的分散程度小得多。描述它们的分散程度同样可以用标准偏差作为评定指标。根据误差理论,算术平均值的标准偏差σχ与测量单组测量值的标准偏差σ存在如下关系σχ=σ/√n;例题;准确度和精密度的关系

;准确度和精密度的关系;准确度和精密度的关系;误差的种类、性质、产生的原因;(2)产生的原因;2.偶然误差;误差的减免;误差传递的概念;误差传递的形式;系统误差的传递;乘除运算

设:R为分析结果A,B,C三个测量值

相乘除的结果,如计算式是:

则得到:;A.加减运算

计算结果的方差(标准偏差的平方)是各测量值方差的和,如R=A+B-C,则:

;随机误差的传递加减法的通式;B.乘除运算;系统误差的检查方法;系统误差的检查方法;有效数字及其运算规则;一、有效数字;2.数据中零的作用;3.改变单位,不改变有效数字的位数;二、运算规则;2.乘除运算时;3.注意点;有效数字及其运算规则;有效数字及其运算规则;提高分析结果准确度的方法;2.减小测量误差

称量:分析天平的称量误差为±0.0002g,为了使测量时的相对误差在0.1%以下,试样质量必须在0.2g以上。

滴定管读数常有±0.0lmL的误差,在一次滴定中,读数两次,可能造成±0.02mL的误差。为使测量时的相对误差小于0.1%,消耗滴定剂的体积必须在20mL以上,最好使体积在25mL左右,一般在20至30mL之间。

微量组分的光度测定中??可将称量的准确度提高约一个数量级。;3.减小随机误差

在消除系统误差的前提下,平行测定次数愈多,平均值愈接近真实值。因此,增加测定次数,可以提高平均值精密度。在化学分析中,对于同一试样,通常要求平行测定(paralleldetermination)2~4次。;4.消除系统误差

由于系统误差是由某种固定的原因造成的,因而找出这一原因,就可以消除系统误差的来源。有下列几种方法:

(1)对照试验-contrasttest

(2)空白试验-blanktest

(3)校准仪器-calibrationinstrument

(4)分析结果的校正-correctionresult;(1)对照试验

与标准试样的标准结果进行对照;

标准试样、管理样、合成样、加入回收法。

与其它成熟的分析方法进行对照;

国家标准分析方法或公认的经典分析方法。

由不同分析人员,不同实验室来进行对照试验。

内检、外检。;(2)空白试验

空白实验:在不加待测组分的情况下,按照试样分析同样的操作手续和条件进行实验,所测定的结果为空白值,从试样测定结果中扣除空白值,来校正分析结果。

消除由试剂、蒸馏水、实验器皿和环境带入的杂质引起的系统误差,但空白值不可太大。

;(3)校准仪器

仪器不准确引起的系统误差,通过校准仪器来减小其影响。例如砝码、移液管和滴定管等,在精确的分析中,必须进行校准,并在计算结果时采用校正值。

(4)分析结果的校正

校正分析过程的方法误差,例用重量法测定试样中高含量的SiO2,因硅酸盐沉淀不完全而使测定结果偏低,可用光度法测定滤液中少量的硅,而后将分析结果相加。;有限量测量数据的统计处理;偶然误差分布图;偶然误差;正态分布的数学表达式:

;正态分布;由式和图可见偶然误差有以下特点:

;σ反映了测定值的分散程度。σ愈大,曲线愈平坦,测定值愈分散;σ愈小,曲线愈尖锐,测定值愈集中。

σ和μ是正态分布的两个基本的参数。μ测量值集中趋势,σ表示测量值分布程度,这种正态分布曲线一般用N(μ,σ2)表示。;标准正态分布;正态分布曲线与横坐标-∞到+∞之间所夹的面积,代表所有数据出现概率的总和,其值应为1。即概率为:;随

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