TCESA-汽车用集成电路 良率统计方法.pdf

ICS

CCS

团体标准

T/CESAXXXX—202X

汽车用集成电路良率统计方法

Automotiveintegratedcircuits–Yieldstatisticalmethod

征求意见稿

在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

已授权的专利证明材料为专利证书复印件或扉页，已公开但尚未授权的专利申请

证明材料为专利公开通知书复印件或扉页，未公开的专利申请的证明材料为专利申请

号和申请日期。

202X-XX-XX发布202X-XX-XX实施

中国电子工业标准化技术协会发布

T/CESAXXXX—202X

版权保护文件

版权所有归属于该标准的发布机构，除非有其他规定，否则未经许可，此发行物及其章节不得以其

他形式或任何手段进行复制、再版或使用，包括电子版，影印件，或发布在互联网及内部网络等。使用

许可可于发布机构获取。

I

T/CESAXXXX—202X

目次

前言III

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4统计良率限值和统计分类限值建立方法1

5告知用户2

II

T/CESAXXXX—202X

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起

草。

本文件由中国电子技术标准化研究院提出。

本文件由中国电子工业标准化技术协会归口。

本文件起草单位：。

本文件主要起草人：。

III

T/CESAXXXX—202X

汽车用集成电路良率统计方法

1范围

本文件规定了汽车用集成电路的良率统计方法，包括统计良率限值和统计分类限值建立方法。

本文件适用于完成封装或未封装的汽车用集成电路，分立器件、光电器件和多芯片组件等汽车电子

元器件也可参照执行。

注：如果测试结果属于非正态分布，具体使用的方法可能与本指南中描述的不同，特别是在非正态分布的情况下。

汽车用集成电路供应商应证明这种派生的方法为好的统计方法。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T9178集成电路术语

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

统计良率限值statisticalyieldlimits/SYL

用来来识别显示出晶片、晶圆批次或封装批次测试出现的异常低的良率。低于统计量率限值应及时

提示并由专业人员分析。

3.2

统计分类限值statisticalbinlimits/SBL

用来来识别显示出晶片、晶圆批次或封装批次某