HIOKI日置RM3545A测试线选型指南样本手册.pdf

RM3545A测试线选型指南

RM3545A的测试线

为了准确测量所有的被测物，我司提供5种类型的测试线。

请根据被测物形状和接触的可操作性后，选择适合的类型。

针型测试线L2100

仅需接触被测物，即可进行4端子测量。

前端为弹簧式可伸缩探针，因此接触稳定。

SOURCE探针和SENSE探针之间保持适当间隔距离，比较适合低电阻的测量。

低电阻测试用※1探针的间隔距离2.5mm

※1：低电阻是指测试电流在100mA以上的下列量程。无法保证在此范围外的精度。

1000μΩ量程(HIGH，LOW)、10mΩ量程(HIGH，LOW)、100mΩ量程(HIGH，LOW)、1000mΩ量程(仅限HIGH)

单位：mm

外观尺寸※2

标记线

2.5

4.3

前端探针9772-90

SOURCESENSE用于L2100的前端更换

9.15

1400

172300537005370测量时，请注意测试线的朝向，需要将SOURCE端朝外。

SENSE端的探针基座部分有标记线。

L2100不带屏蔽端子。测量高电阻时，请考虑使用以下带屏蔽端子的测试线。

夹型测试线L2101针型测试线L2102

仅需夹住被测物，即可进行4端子测量。仅需接触被测物，即可进行4端子测量。

这样能解放操作人员的双手，便于在测量的同时进行其他操作。便于对无法夹住的扁平端子，或者接触区域较小的被测物进行测量。

在测试电流100mA以上的低电阻量程下推荐使用L2100。

可夹直径0.3mm～5mm探针外径φ1.8mm探针的间隔0.6mm

单位：mm单位：mm

外观