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摘要：以SrAl2Si2O8为基质、Eu2+为掺杂离子，通过高温固相法制备了一组的荧光粉，研究了其晶格结构、激发光谱和发射光谱以及热稳定性。实验结果表明,样品均为纯相，Eu2+离子的最佳掺杂摩尔浓度约为5%。最佳掺杂浓度下，用337nm光进行激发，荧光粉的发射光谱是一个峰值波长为404nm的非对称的宽带单峰，峰的半高宽约为53nm。掺杂Eu2+离子浓度过高会发生浓度猝灭现象，通过Dexter理论，判断出SrAlSi2O8:Eu2+(SASO:Eu2+)荧光粉浓度猝灭机理是因为掺杂的Eu2+之间的电偶极-电偶极相互作用。温度逐渐升高，
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