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14ICT元件测试说明书ICT元件测试基准模式及范围1-R(DCV)2-R(DCI)3-R(AC)4-C(DC)6-C7-C(AC)8-Coil(DC)9-Coil(AC)10-Diode(DC)11-Diode模式及范围12-V13-Open14-Short15-SCR16-I元件测试方法1、电阻测试方法：普通电阻测试用模式1、2均可，但大电阻(兆Ω)用模式1，小电阻(100Ω以下)用模式2。模式3一般不使用。2、电容的测试方法：电解电容及较大容值的电容(uF及uF以上)使用模式4测试，小电容(pF、nF)使用模式7测试。电容极性使用模式6测试。3、电感测试方法：由于设备自身精确度限制，一般采用开短路来测试。(电感一般为短路，线圈、变压器同一边的管脚短路。)4、二极管、三极管、IC等半导体器件测试方法：二极管、三极管、IC等半导体器件一般用模式10来测试。范围选择一般为3或4，用范围5时可能会因为电流过大而将元器件损伤。测试导体类器件时应该注意一点：测试值应该小于1V，当测试值大于1V时，说明器件不良或设备故障(半导体类部品测试时正向电压与反向电压应有较大差异，用于测试部品逆插。)5、跳线、保险管、连接器、变压器测试方法：这类器件一般采用开短路方法来测试。一般设定基准为10Ω，由于设备偏差及连接线损耗可适当设为15Ω。ICT常见故障及维修方法1、测试值不良电阻测试不良：(1)、当测试值为无穷大时，需要检测模式及范围选择是否正确、继电器板是否良好、PIN针是否接触良好、连接发线是否连接牢固。如正常，可用万用表手动测试元件值是否正常;(2)、当测试值为零时检查制品是否短路、PIN针是否不良。(3)、当测试值为-9999时,检查测试模式及范围、并用万用表手动测试制品值是否正常。(4)、如测试值不稳定时可适当增加Ws及Ds来增加测试稳定性，但Ws一般最大为5、Ds最大为10，如选择更大则会影响测试时间,可参考附表1确认电阻阻值。电容测试不良：(1)、电容值测试不稳定时，可适当增加Ds来增加测试稳定性(设备需使用放电主板),也可改变测试模式来检测测试是否稳定,有时也可以通过增加Ws来增加稳定性,但由于电容的不稳定性，大电容一般不太稳定。(2)、电容测试值9999或-9999时需要更换测试模式或检查PIN针连接状态。半导体及IC类元件不良：(1)、值偏小或为0时，检测测试模式，或增加Ws，仍不良时检测PIN针及连接状态。(2)、值偏大(正常测试值应该在0.4～0.85之间，或高或低都不正常)，调换测试极性，检查PIN针连接状态。2、测试大片不良测试大片不良先检测主板及继电器板是否正常。如正常则观察不良点是否使用集中的PIN针，如以上都无不良则检查主板5100E上48V直流电压极性是否连接正确，检查继电器板与JIG连接线是否接反或连接线松动。3、主板自检不良 主板自检不良一般为主板自身不良，9000主板控制整体测试，如不良则显示CV、CC、AC均不良或主板不自检。5100E主板控制CV、CC测试，4062C控制AC测试。在发生不良时根据相应不良现象更换相应主板。主板假性不良：有时检测主板CV不良且测试值不稳定。一般为假性不良。按如下路径打开文件：“C:\ProgramFiles\AT-01”，在该目录下新建一个文件夹，将ICT.cfg剪切放入新建文件夹，然后双击inctest.exe打开程序即可。ICT常见故障及维修方法4、主板不自检主板不自检一般为主板9000不良或5100不良。重新更换9000主板后如仍不良则检查PCI线是否连接正常。如仍不正常则关闭电脑、断电，然后将510