材料电子及中子分析技术 课件 6知识点1 高分辨原理.pptx

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;课程内容;物镜光阑同时让透射束和多个衍射束通过,共同达到像平面干涉成像的操作。

物镜光阑完成四种操作:;

环节1)电子波与试样的相互作用,在试样的下表面形成透射波,又称物面波;其数学表达为试样透射函数;1)成像束:HRTEM为多电子束成像,而TEM则为单电子束。

2)结构要求:HRTEM对极靴、光阑要求高于TEM。

3)成像:HRTEM仅有成像分析(晶体与非晶均可成像),包括一维、二维的晶格像和结构像,而TEM除了成像分析还可衍射分析。

4)试样要求:HRTEM试样厚度一般小于10nm,可视为弱相位体,即电子束通过试样时振幅几乎无变化,只发生相位改变,而TEM试样厚度通常为20~200nm。

5)像衬度:HRTEM像衬度主要为相位衬度,而TEM则主要是振幅衬度。

;一、试样透射函数的近似表达式(物面波函数);;二、衬度传递函数;2)球差;三.像平面上的像面波函数;四、最佳欠焦条件及电镜最高分辨率;五、第一通带宽度;;(2)加速电压

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