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与非门传输特性实验报告
篇一：实验1与非门测试
实验一TTL与非门的静态参数测试实验报告
一、实验数据（一）
1.低电平输出电源电流IccL和高电平输出电源电流
Icch及静态平均功
率??
2.输入短路电流IIs和输入漏电流IIh
3.输出高电平uoh及关门电平uoFF
4.输出低电平uoL及开门电平uon（(:与非门传输特性
实验报告)二）
测试TTL与非门的电压传输特性
（三）
平均传输延迟时间tpd
由示波器测得T=96.00ns，于是??pd=波形如下：
14
??14
=
9614
≈6.8571.
二、实验分析1.实验原理图
图1测量低电平输出电源电流IccL图2测量高电平输
出电源电流Icch
图3测量输入短路电流IIs图4输入漏电流IIh
图5输出高电平uoh及关门电平uoFF图6测量输出低
电平uoL及开门电平uon
图7测试TTL与非门的电压传输特性
图8测量平均传输延迟时间tpd
2.由实验（二）所得参数，运用matlab画出电压传输
特性曲线。
uo(V)
0.511.5
2ui(V)
2.533.54
3.实验数据分析
a低电平输出电源电流IccL为2.029mA，高电平输出电
源电流Icch为0.674mA，且低电平输出电源电流IccL比高
电平输出电源电流高，符合理论值。
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b输入短路电流IIs为0.168mA，而输入漏电流IIh为
微安级，由于仪器精度不够无法测出有效数据，示数为0mA，
说明其前级门电路带负载的个数较多。
c由uoh，uoL，uoFF，uon四组数据得，74Ls00的跳变
电压在1V左右，从0.955V~1.160V。高电平为2.418V,低电
平在0.330V，整体偏小，但在理论值范围内，说明实验箱内
除74Ls00外的部分有一定分压。d由实验（二）的电压传输
特性曲线来看，在输入电压为低电平时，
篇二：数字逻辑与数字系统实验报告二
篇三：器件集成与非门电路参数的测试实验报告
集成与非门电路参数的测试
一、实验目的
（1）TTL和cmos与非门的电压传输特性的测试（2）TTL
和cmos与非门的主要参数及测试方法
二、实验器件
(1)hbe硬件基础电路实验箱、双踪示波器、数字万用表
(2)元器件：74Ls00、cD4011
三、实验内容
1.测试与非门74Ls00的电压传输特性
测量电路原理如图所示，调节电位器Rw，使Vi从0V向
5V变化，逐点测试Vi和Vo，列表记录Vi和Vo值。根据测
试数据画出门电路的传输特性曲线。
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电路连线：
实验数据：
传输特性曲线：
原理：
根据调节上拉电阻接入电路中的电阻值来调节Vo和Vi
的大小从而得出关系曲线。
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