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;查阅资料，课后完成以下任务：;目录/CONTENTS;集成电路测试概述;什么是测试？为什么要测试？;测试的主要目的是对集成电路的各项功能及参数指标进行检验，保证各项参数能够达标。测试的对象包括数字IC、模拟IC、低频、射频和数模混合信号电路等设备。;测试的对象和主要测试内容;芯片测试的核心—C语言;集成电路自动测试系统;主要测试阶段;主要测试阶段;半导体WAT测试（WaferAcceptanceTest）：芯片制造完成后，对芯片进行的测试以确认其质量和可靠性。主要测试内容包括：;集成电路生产大致流程;集成电路晶圆测试（CP);CP测试及map图;CP测试;CP检测的工艺操作
;CP检测流程;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;
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