《数字电子技术 》课件第1章 (8).ppt

对于CMOS与门和与非门来说，多余端只能通过较大的电阻（至少10kΩ）接+VDD（输入过流保护），不允许悬空（以防止静电损坏），也不适合于与使用端并联（并联使电容效应增大）。对于CMOS或门和或非门，多余端只能接地，这样，该端子的输入电平认为是低电平0。对于其它门电路可以参照以上原则进行处理。2．电源数字电路的各种门电路对电源电压的要求是不同的，对于TTL门电路，电源电压为VCC=+5V。对于CMOS门电路来说，电源电压范围比较宽，VDD取3~18V。具体使用时切记不能把电源极性接错。3．TTL门与CMOS的接口两个系列的门电路在同一系统中使用，由于二者的工作电源电压不同，输入电平、输出电平值有所不同，因而需要电平转换。1)TTL门驱动CMOS门若选择相同的工作电源电压（+5V），则二者之间可以直接连接。但由于TTL电路的输出高电平为2.4~3.6V，而CMOS门输入高电平最小也要3.5V，高电平配合不合适，因此要在TTL输出端和电源之间接一个电阻R1(3kΩ)以提升TTL的输出高电平。低电平配合没有问题。若VDD高于VCC（+5V），可采用与上面同样的电路形式，TTL门可采用OC门，并选择一个合适的上拉电阻R1接到CMOS门的电源VDD即可。电路如图1.20所示。图1.20TTL门驱动CMOS门2）CMOS门驱动TTL门若VDD=VCC=+5V，虽然CMOS门驱动电流不大，但直接驱动一个TTL门还是没有问题的，若驱动TTL门太多或负载较重，就要采用专用缓冲驱动器，如CC4050能直接驱动两个TTL门，或采用漏极开路（OD）门来驱动。电路图如图1.21所示。关于这方面的内容，读者可参考有关书籍。图1.21CMOS门驱动TTL门1.9技能训练实训集成逻辑门电路的功能测试1.实训目的(1)熟悉常用门电路的逻辑功能。(2)掌握门电路功能测试的方法。(3)了解集成逻辑门电路的外形及引脚排列。(4)初步掌握数字电路实验仪器的使用方法。2.实训说明组成数字逻辑电路的基本单元有两大部分，一部分是门电路，另一部分是触发器。门电路实际上是一种条件开关电路，只有在输入信号满足一定的逻辑条件时，开关电路才允许信号通过，否则信号就不能通过，即门电路的输出信号与输入信号之间存在着一定的逻辑关系，故又称之为逻辑门电路。本次实训中，通过测试74LS00、74LS02、74LS08和CC4011等几种集成门电路的逻辑功能，以掌握常用门电路的逻辑功能及其测试方法。3.实训器材(1)数字实验台（或实验箱）一台(2)双踪示波器一台(3)信号发生器一台(4)数字式万用表一只(5)74LS00、74LS02、74LS08、CC4011各一片4.实训内容及步骤1)电平开关和电平显示器的使用和检测首先给电平显示器连接+5V电源，然后用连接导线把某个逻辑电平开关（如S1）分别与L1~L16相连接，观察显示器发光情况；再用连接导线把某个逻辑电平显示器（如L1）依次与S1~S16相连接，并上下拨动电平开关，观察显示器发光情况。将有问题的电平开关及电平显示器记录下来，并报告教师进行处理。2）测试常用门电路的逻辑功能（1）实验电路如图1.22所示，首先给待测集成门电路接通+5V电源，被测门电路（取器件中的一个门进行测试）的输入端接逻辑电平开关，输出端接电平显示器，按表1.14的要求改变输入端的电平状态，将输出结果记入表1.14中，并根据输出结果总结其逻辑功能。图1.22实验电路表1.14实验数据表（2）观察与非门的开关控制作用。将被测与非门的A端接通连续方波信号（f＝1kHz,UP＝3V），在B端分别置“0”、“1”时，用示波器观察并记录其输入、输出波形于图1.23中。图1.23实验波形5.预习要求(1)TTL门电路和CMOS门电路对闲置输入端的处理有何不同?(2)熟悉实验用各集成电路的引脚功能。思考题(1)整理测试数据及波形，并加以分析。(2)如果与非门的一个输入端接连续方波信号，那么：①其余输入端是什么状态时，允许脉冲通过？脉冲通过时输出波形与输入端波形