【英语版】国际标准 ISO 24173:2009 EN 微光束分析 利用电子反向散射衍射进行定向测量的指南 Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction.pdf

ISO24173:2009EN《微束分析-使用电子背散射衍射进行取向测量的指南》是一份关于微束分析的标准，特别是关于使用电子背散射衍射进行取向测量的指南。该标准提供了在进行微束分析时进行取向测量的详细指导，包括实验设计、样品准备、仪器设置、数据处理和分析等方面。该标准旨在为使用微束分析方法进行取向测量的研究人员和技术人员提供一种标准化和规范化的方法，以确保结果的可靠性和一致性。该标准提供了许多有用的建议和指导，例如选择合适的仪器和样品、优化实验参数、处理数据和解释结果等方面的建议。ISO24173:2009EN《微束分析-使用电子背散射衍射进行取向测量的指南》是一份非常重要的标准，对于使用微束分析方法进行科学研究和技术开发的人员具有重要的参考价值。