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AECQ101中文标准规范
本文介绍了AEC-Q101基于离散半导体元件应力测试认
证的失效机理，旨在确保汽车电子元器件在极端条件下的可靠
性。以下是相关附录和测试方法。
附录1：认证家族的定义
认证家族是指一组基于相同标准和测试方法的认证测试。
AEC-Q101认证家族包括多种测试，如人体模式静电放电测试
和邦线切应力测试等。
附录2：Q101设计、构架及认证的证明
该附录详细介绍了Q101认证的设计和构架，并提供了证
明文件，以确保测试结果的准确性和可靠性。
附录3：认证计划
该附录列出了AEC-Q101认证的计划，包括测试的时间
表和所需的资源。
附录4：数据表示格式
该附录定义了数据表示格式，以确保测试结果的一致性和
可比性。
附录5：最小参数测试要求
该附录列出了最小参数测试要求，以确保测试结果的准确
性和可靠性。
附录6：邦线测试的塑封开启
该附录介绍了邦线测试的塑封开启方法，以确保测试结果
的准确性和可靠性。
附录7：AEC-Q101与健壮性验证关系指南
该附录提供了AEC-Q101认证与健壮性验证之间的关系
指南，以确保测试结果的一致性和可靠性。
附件：
AEC-Q101-001：人体模式静电放电测试
该测试方法用于评估元器件在人体模式静电放电条件下的
耐受性。
AEC-Q101-003：邦线切应力测试
该测试方法用于评估元器件在邦线切应力条件下的耐受性。
AEC-Q101-004：同步性测试方法
该测试方法用于评估元器件在同步性条件下的耐受性。
AEC-Q101-005：静电放电试验–带电器件模型
该测试方法用于评估元器件在静电放电条件下的耐受性。
AEC-Q101-006：12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描
述
该测试方法用于评估12V系统灵敏功率设备在短路条件
下的可靠性。
最后，我们感谢以下人员对该版文件的重大贡献：固定会
员XXXForster、MarkA。Kelly、DrewHoffman、XXXXXX、
XXX和XXXXXX，以及技术成员XXX、XXX。XXXXXX、
XXX、XXXDaniels、XXX和BobKnoell。他们的经验和技能
使得该文件的制定成为可能。
ZhongningLiangfromNXPSemiconductors。TomSiegel
andTonyWalshfromRenesasTechnology。XXX。Arthur
ChiangandTedKrueger(Q101TeamLeader)fromVishaywere
amongthecontributorstothisdocument。OthersupportersXXX。
DennisL。CerneyfromnalRectifier。ReneRongen。Thomas
Hough。andThomasXXX.
ThisdocumentisdedicatedtothememoryofTedKrueger
(1955-2013)andMarkGabrielle(1957-2013).
PleasenotethatallmaterialsinthisAECdocumenthavebeen
prepared。evaluated。andXXXindustry。whethertheXXX。
XXXmanufacturersandpurchasers。XXX。andhelppurchasers
selectXXX.
AECdocumentsdonotconcernwhethertheadoptedcontent
involvespatents。articles。materials。XXX。nordoesitXXXa
perfectwaytoexplainandapplyproducts。Ifthe
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