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ROUSANTECH文件编号:文件名称:LDO芯片认定作业指导书

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ROUSANTECH文件编号:文件名称:LDO芯片认定作业指导书

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一.目的:

为了保证用科学的手段找到满足本公司产品设计要求的LDO芯片,确保在认定过程中充分及完整地验

证该元器件的相关参数。

二.适用范围:

2.1适用于本公司的产品所使用的LDO芯片的认定。

2.2适用于参与元器件合规性认定工作的部门和个人。

2.3对于全新的、替代件的、产地变更的、工程变更的、材料及主要器件变更的、新模具及改模的、

制程变更的情况均需要进行认定。

2.4测试工作可以依托公司或第三方或供应商端设备实现完成,或者也可以要求供应商提供第三方的测

试报告,做为认可依据,免于测试。

三.引用文件

3.1GJB548A—96微电子器件试验方法和程序

3.2GB/T16464—1996半导体器件集成电路第1部分:总则

3.3GB/T17940—2000半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路

3.4GB/T4937—1995半导体器件机械和气候试验方法

四.定义:

适用性认定:根据整机产品规格要求,对部品的主要功能特性和在整机中的配合工作实现产品规格要

求的满足度的测试。

合规性认定:依规格书的指标要求,对部品的参数进行符合性测试。

五.内容

5.1样品及规格书的确认

5.1.1新部品的样品及规格书应核实已经过设计部门适用性认定。

5.1.2替代件部品应核实认定项目的技术指标不低于被代品,当技术指标低于被代品时由设计部门

的工程师确认。产品包装形式应符合被代品“部品规格书”的包装要求。

5.2样品测试报告

5.2.1供应商提供样品时,需提供对样品的关键参数的相关测试数据及报告。

5.3测试条件要求

5.3.1设备、仪器应在校正计量期内。

5.3.2试验的标准大气条件

温度:15℃—35℃;

相对湿度:20%—80%;

气压:86kPa—106kPa。

5.3.3仲裁条件

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