锥光镜下晶体光学性质.ppt

*二、常用的定向切面及其特征1、垂直光轴切面光率体切面为圆切面，半径等于No或Nm。单偏光镜下不显多色性，正交镜间全消光，锥光镜下显一轴晶或二轴晶垂直光轴干涉图。可以此切面测定的光学性质有：确定轴性、测定光性符号，估计2V，观察色散现象。测定No或Nm的折射率值、颜色。第63页,共65页，星期六，2024年，5月*2、平行光轴或Ap的切面光率体切面为椭圆。单偏光镜下多色性最明显，干涉色级序最高，显瞬变干涉图。此种切面上可测定的光学性质有：观察多色性的明显程度，测定Ne、No或Ng、Np的颜色。观察闪突起现象，测定折射率值。测定最大双折率和最高干涉色。测定消光角等。第64页,共65页，星期六，2024年，5月感谢大家观看第65页,共65页，星期六，2024年，5月*⑵成因当光轴与AA、PP之一平行时，波向图上大部分光率体椭圆半径与AA、PP平行或近平行，在正交镜间消光或近消光，形成粗大黑十字。稍转物台，中央光率体半径大都首先与AA、PP斜交而变亮，黑十字迅速从中心分裂，继续转物台，当所有光率体椭圆半径均与AA、PP斜交时，视域全部明亮，出现干涉色。第31页,共65页，星期六，2024年，5月*正光性垂直光轴方向上，自中心向两边双折率不变，厚度愈外愈大，故干涉色愈外愈高。平行光轴方向上，双折率愈外愈低，因薄片厚度不大，视域较小，矿片厚度的加大不足以抵消双折率减小的影响，故干涉色愈外愈低。当光轴与AA、PP成45°时：第32页,共65页，星期六，2024年，5月*⑶应用A、因与二轴晶平行Ap切面的干涉图很难区分，故不能用来确定轴性。当轴性已知时，可确定切面方向。此切面上可以测出最大双折率和最高干涉色。B、当轴性已知时，可测定光性符号。测定方法和步骤：①确定光轴方向。转动载物台，黑十字退出视域的方向或干涉色级序由中心向两边逐渐降低的方向。②使光轴与AA、PP成45°。③插入试板，观察整个视域干涉色升降变化，确定光性正负。第33页,共65页，星期六，2024年，5月*一轴晶平行光轴切面干涉图中光性符号的测定第34页,共65页，星期六，2024年，5月*1、垂直Bxa切面的干涉图⑴图像特点当光轴面与上、下偏光振动方向之一平行时，干涉图由一个黑十字及“∞”字形干涉色圈组成。三、二轴晶干涉图第35页,共65页，星期六，2024年，5月*★二轴晶垂直Bxa切面干涉图的特征及其光率体椭圆半径的分布第36页,共65页，星期六，2024年，5月*转动物台，黑十字从中心分裂成两弯曲黑带。当Ap与AA、PP成45°时，两黑带顶点最远，顶点为光轴出露点并凸向Bxa出露点。顶点间距与“2V”成正比，连线为Ap迹线，通过Bxa出露点，垂直光轴面迹线方向为Nm方向。在转动物台过程中，干涉色圈形状不变，但随着光轴出露点移动。第37页,共65页，星期六，2024年，5月*A、黑十字及弯曲黑带的成因：⑵成因第38页,共65页，星期六，2024年，5月*B、干涉色圈的成因由两光轴出露点向外，随入射光与光轴夹角的加大，其双折率和经历的路程都逐渐加大，R增加速度较快。在光轴与Bxa之间，随着入射光与光轴夹角的加大，其双折率增大，但经历的路程减小，R增加速度较慢，而且到达Bxa光程差不再增加。ABCD第39页,共65页，星期六，2024年，5月*当2V较大时，垂直Bxa切面干涉图与垂直Bxo切面干涉图不易区分，不宜用于测定光性符号。当Bxa＝Ng，Bxo＝Np时，为正光性；当Bxa＝Np，Bxo＝Ng时，为负光性。因此，测定二轴晶的光性正负，实际上就是测定Bxa＝Ng还是Np。⑶应用A、确定轴性及切面方向B、测定光轴角大小(略）C、测定光性符号（2V小于80°）第40页,共65页，星期六，2024年，5月*ABCDABCD在垂直Bxa切面的干涉图中，当Ap与AA、PP成45°时，在光轴面迹线上，弯曲黑臂顶点内外的光率体椭圆长短半径的分布方位，因光性正负而不同。Nm第41页,共65页，星期六，2024年，5月*无论光性正负,在两黑带顶点间，与Ap迹线一致的是Bxo投影方向；在顶点之外，与Ap迹线一致的是Bxa投影方向；垂直Ap迹线方向，黑带顶点内外都是Nm方向。Bxa、Bxo及Nm的方位确定后，加入试板，根据黑臂顶点内外干涉色级序的升降变化，确定Bxa是Ng还是Np，从而确定光性正负。第42页,共65页，星期六，2024年，5月*当干涉图中弯曲黑臂以外仅见一级灰干涉色时，可加入石膏试板。第43页,共65页，星期六，2024年，5月*