GB_T 15651.5-2024光电子器件 光电耦合器.docxVIP

ICS31.080CCSL50

中华人民共和国国家标准

GB/T15651.5—2024/IEC60747-5-5:2020

半导体器件第5-5部分:

光电子器件光电耦合器

Semiconductordevices—

Part5-5:Optoelectronicdevices—Photocouplers

(IEC60747-5-5:2020,IDT)

2024-03-15发布2024-07-01实施

国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

发布

Ⅰ

GB/T15651.5—2024/IEC60747-5-5:2020

目次

前言 Ⅲ

引言 Ⅳ

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义 2

4电特性 9

4.1光电晶体管输出型光电耦合器 9

4.2光电双向晶闸管输出型光电耦合器或固态光继电器 10

5具有电击防护功能的光电耦合器 11

5.1概述 11

5.2类型 11

5.3额定值 11

5.4电气安全要求 12

5.5电气、环境和/或耐久性测试信息(补充信息) 13

6光电耦合器的测试方法 19

6.1电流传输比HF(ctr) 19

6.2输入-输出电容CIO 20

6.3输入-输出隔离电阻(RIO) 20

6.4隔离试验 21

6.5光电耦合器的局部放电 22

6.6光电耦合器的集电极-发射极饱和电压VCE(sat) 25

6.7光电耦合器的开关时间ton,toff 27

6.8峰值关断状态电流IDRM 28

6.9峰值导通电压VTM 30

6.10直流关断电流IBD 32

6.11直流导通电压VT 33

6.12维持电流IH 34

6.13关断电压临界上升率dV/dt 34

6.14输入触发电流 36

6.15光电耦合器的共模瞬态抑制(CMTI)测试方法 37

7光控双向闸流晶体管型耦合器的电额定值的测试方法 39

7.1关断状态重复峰值电压VDRM 39

Ⅱ

GB/T15651.5—2024/IEC60747-5-5:2020

7.2关断状态直流电压VBD 40

附录A(规范性)输入/输出安全试验 41

A.1目的 41

A.2测试电路 41

A.3电路描述 41

A.4注意事项 41

A.5测试步骤 41

A.6规定条件 41

参考文献 42

Ⅲ

GB/T15651.5—2024/IEC60747-5-5:2020

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。

本文件是GB/T15651的第5-5部分。GB/T15651已经发布了以下部分:

—半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件(GB/T15651—1995);

—半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性(GB/T15651.2—

2003);

—半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法(GB/T15651.3—2003);—半导体器件分立器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器(GB/T15651.4—2017);—半导体器件第5-5部分:光电子器件光电耦合器(GB/T15651.5—2024);

—半导体器件第5-6部分:光电子器件发光二极管(GB/T15651.6—2023);

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