YST 543-2015 半导体键合用铝-硅细丝.docxVIP

ICS29.045H61

中华人民共和国有色金属行业标准

YS/T543—2015

代替YS/T543—2006

半导体键合用铝-1%硅细丝

Standardspecificationforfinealuminum-1%siliconwireforsemiconductorlead-bonding

2015-04-30发布2015-10-01实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

I

YS/T543—2015

前言

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。

本标准代替YS/T543—2006《半导体键合用铝-1%硅细丝》。本标准与YS/T543—2006相比，主要技术变化如下：

增加并调整了牌号、类别、尺寸规格；

——增加了化学成分中Mg、B、V杂质元素的要求；——增加了拉断力、断后伸长率波动范围；

——增加了资料性附录A,细丝表面典型缺陷；——增加了规范性附录B,细丝长度测量方法；

——增加了规范性附录C,细丝表面质量检验方法。

本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)提出并归口。

本标准主要起草单位：新疆众和股份有限公司、北京有色金属与稀土应用研究所、江阴市超精达铝塑有限公司、山东兖矿轻合金有限公司、北京达博有色金属焊料有限责任公司、东北轻合金有限责任公司。

本标准主要起草人：吴斌、宋玉萍、努力古、史秀梅、徐岳兴、杨枭、焦磊、温伟、高新宇、杜连民。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：

——YS/T543—2006。

1

YS/T543—2015

半导体键合用铝-1%硅细丝

1范围

本标准规定了半导体器件键合用铝-1%硅细丝的要求、试验方法、检验规则及包装、标志、运输、贮存及质量证明书与订货单(或合同)内容。

本标准适用于半导体内引线用拉制或挤压铝-1%硅细丝(以下简称细丝)。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

GB/T3199铝及铝合金加工产品包装、标志、运输、贮存

GB/T7999铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定GB/T10573有色金属细丝拉伸试验方法

GB/T17432变形铝及铝合金化学分析取样方法

GB/T20975(所有部分)铝及铝合金化学分析方法

YS/T871高纯铝化学分析方法痕量元素的测定辉光放电质谱法

3要求

3.1产品分类

3.1.1牌号、状态、尺寸规格

细丝的牌号、状态、尺寸规格见表1。

表1牌号、状态、类别、尺寸规格

牌号

状态

尺寸规格

典型直径/mm

典型长度/m

Al-1%Si

0、H18

0.013、0.038、0.100

0.018、0.040、

0.020、0.045、

0.025、0.050、

0.030、0.060、

0.032、0.070、

0.035、0.080、

100～1000

3.1.2标记示例

细丝的标记按产品名称、标准编号、牌号、状态及尺寸规格的顺序表示。标记示例如下：示例：牌号Al-1%Si、状态H18、直径为0.013mm、长度100m的细丝，标记为：

细丝YS/T543-Al-1%SiH18-φ0.013×100

2

YS/T543—2015

3.2化学成分

细丝的化学成分应符合表2的规定，如对其他元素有特殊要求时，由供需双方协商确定，并在订货单(或合同)中具体注明。

表2化学成分

牌号

化学成分(质量分数)/%

Si

Fe

Cu

Mg

B

V

其他元素

Al?

单个

合计

Al-1%Si

0.85～1.15

≤0.001

≤0.001

≤0.0002

≤0.0008

≤0.0002

≤0.0001

≤0.0010

余量

“其他元素指表中未列出或未规定数值的元素。

铝的质量分数为100.00%与所有含量不小于0.0010%的元素含量总和的差值，求和前各元素数值要表示到0.00×%。

3.3尺寸偏差

3.3.1直径偏差

细丝的直径偏差应符合表3的规定。

表3直径偏差单位为毫米

公称直径

允许偏差

公称直径

允许偏差

0.013

±0.0004

0.040

±0.0012

0.018

±0.0005

0.