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基于STM32H750的LCR测量仪设计

摘要

近些年来,科学技术飞速发展,造成了各行各业生机勃勃的局面。在制造电子仪器的进程中,不可或缺的需要电阻、电感、电容来进行电路的设计,而它们的实际阻值与电阻标称值存在一些误差,对于一些测量精度很高的仪器,它们的误差可能造成严重的影响。所以,准确的测量出元件的阻值是必不可少的。所以本文设计了一种LCR测量仪。市面上的LCR测量仪大部分才用的是自由轴测量法,此方法相对于其他方法测量误差小,硬件电路结构简单易于实现,所以本文采用此方法来进行电路设计。

本文LCR测量仪首先利用单片机作为控制单元,利用脉冲调宽模拟DAC输出波形,在通过滤波电路滤去

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