TCASAS 005-2022 用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法.pdf

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ICS31.080

L40/49

团体标准

T/CASAS005—2022

穟e

用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体

管动态导通电阻测试方法

Dynamicon-resistancetestmethodforGaNhighelectronmobility

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transistor(HEMT)inhard-switchingcircuits

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?版本:V01.00

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2022-09-16发布2022-09-16实施

第三代半导体产业技术创新战略联盟发布

T/CASAS005—2022

目次

前言III

引言IV

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4原理2

5测试条件3

e

6测试装置3

7测试程序4

7.1测试方法4

7.2测试流程5

8数据记录和处理6

9试验报告6

附录A(资料性)GaNHEMT电力电子器件动态导通测试记录表7

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参考文献8

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