【英/法语版】国际标准 IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001 CSV EN-FR Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-17: Testing and measurement techniques - Ripple on d.c. input power port immunity test 电磁兼容性(EMC)-第4-17部分:测试和测量技术-直流输入功率端口的抗干扰测试中的波动.pdf

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【英/法语版】国际标准 IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001 CSV EN-FR Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-17: Testing and measurement techniques - Ripple on d.c. input power port immunity test 电磁兼容性(EMC)-第4-17部分:测试和测量技术-直流输入功率端口的抗干扰测试中的波动.pdf

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IEC61000-4-17:1999+AMD1:2001是国际电工委员会(IEC)制定的电磁兼容(EMC)标准的一部分,专门用于测试和测量技术。这部分标准特别关注在直流输入电源端口上的电涌(ripple)的抗干扰测试。

具体来说,这项测试主要关注设备在受到电源端口上不断变化的电磁场干扰时,是否能够正常工作,同时不改变其自身的电磁辐射。换句话说,这项测试是在验证设备是否能够抵御外部电磁干扰的影响,同时仍然符合EMC标准。

这个测试过程包括几个关键步骤:

1.设定和操作:设备在给定的环境条件下操作,包括电源的电压、电流和频率等。同时,也需要设置和控制外部电磁环境,包括干扰源的强度和频率等。

2.测量:使用适当的测量设备和方法,对设备的性能进行测量。这可能包括设备的输出功率、电磁辐射强度、设备的响应时间等。

3.结果分析:根据测量结果,评估设备是否符合IEC61000-4-17标准的要求。如果设备未能通过测试,可能需要进一步调查原因,并采取相应的纠正措施。

这项测试对于确保电子设备的稳定性和可靠性非常重要,因为现代电子设备通常都会产生或受到电磁干扰的影响。IEC61000-4-17:1999+AMD1:2001标准为这种测试提供了一套明确、可操作的方法和要求。

IEC61000-4-17:1999+AMD1:2001标准中的“直流输入端口抗干扰测试”是EMC测试的一个重要部分,主要用于评估电子设备的抗电磁干扰性能。

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