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第95页,共98页,星期六,2024年,5月第96页,共98页,星期六,2024年,5月通用控制图1标准变换:经过变换后随机变量的平均值变成0,方差变成1,即变换后的随机变量=(随机变量-μ)/σ第97页,共98页,星期六,2024年,5月感谢大家观看第98页,共98页,星期六,2024年,5月**控制图上有用实现绘制的中心线CL,用虚线绘制的上控制界限UCL和下控制界限LCL,他们互相平行。图中有按时间顺序抽取的样本统计量数值的描点序列,各点之间用直线段相连,以便看出点子的变化趋势。控制图中的点子落在UCL或LCL之外或在UCL与LCL之间的排列不随机时,表明过程异常。世界上第一张控制图是美国休哈特在1924年提出的不合格品率p控制图。**对第四个点子的判断(1)若过程正常,则点子超过UCL的概率为0.1%左右;(2)若过程异常,点子超过UCL的概率将大为增加,可能为0.1%的几十乃至几百倍。根据小概率事件原理,若发生点子出界,即判断过程异常。**举例1:偶因:机床震动;异因:车刀磨损。举例2:美国有人统计偶因(偶波)造成的问题占全部问题的85%;异因(异波)造成的问题占全部问题的15%。异因(异波)造成的问题称为局部问题,在过程开始时,主要问题是异因(异波)造成的。**推行SPC、执行20字方针,首要的部门是生产部门或工艺部门,质量部起到监督和评价作用。**推行SPC、执行20字方针,首要的部门是生产部门或工艺部门,质量部起到监督和评价作用。**注意控制状态和受控状态是两个不同的概念。图的检定能力和OC曲线(OperatingCharacteristic)假定过程标准差σ为常数,若过程均值由稳定状态值则在偏移后第一个抽取的样本未检测出此偏移的概率(即漏发警报错误的概率)β为:5图和R图的检定能力和OC曲线第63页,共98页,星期六,2024年,5月由第二个样本检出此偏移的概率?β(1-β)此偏移由第k个样本检出的概率为第64页,共98页,星期六,2024年,5月由第二个样本检出此偏移的概率?β值与k,n的关系?β(1-β)此偏移由第k个样本检出的概率为为检出此偏移的期望样本个数为第65页,共98页,星期六,2024年,5月若σ变化μ一定时,设标准差由σ偏移到第66页,共98页,星期六,2024年,5月当σ,μ同时变化时图的第二类错误的概率β值为第67页,共98页,星期六,2024年,5月若样本取自正态总体,可以证明:第68页,共98页,星期六,2024年,5月第69页,共98页,星期六,2024年,5月若σ未知:第70页,共98页,星期六,2024年,5月第71页,共98页,星期六,2024年,5月第72页,共98页,星期六,2024年,5月第73页,共98页,星期六,2024年,5月在σ已知的情况下:第74页,共98页,星期六,2024年,5月第75页,共98页,星期六,2024年,5月样本大小为1,所以对过程标准差的估计要通过相邻两个样本间的移动极差来进行.设从过程抽取的样本为Xi,第76页,共98页,星期六,2024年,5月第77页,共98页,星期六,2024年,5月第78页,共98页,星期六,2024年,5月第79页,共98页,星期六,2024年,5月第80页,共98页,星期六,2024年,5月第81页,共98页,星期六,2024年,5月第82页,共98页,星期六,2024年,5月计件值控制图(二项分布)若过程不合格品率已知:一P(不合格品率)控制图第83页,共98页,星期六,2024年,5月若P未知:设每个样本大小为第i个样本中的不合格品数为,m为样本个数,则样本平均不合格品率为第84页,共98页,星期六,2024年,5月第85页,共98页,星期六,2024年,5月第86页,共98页,星期六,2024年,5月第87页,共98页,星期六,2024年,5月控制图数据列表上下控制界线均呈现凹凸状的p图第88页,共98页,星期六,2024年,5月Pn(不合格品数)控制图若P已知:第89页,共98页,星期六,2024年,5月若P未知第90页,共98页,星期六,2024年,5月计点值控制图(泊松分布)1C(缺陷数)控制图若λ已知第91页,共98页,星期六,2024年,5月若λ未知第92页,共98页,星期六,2024年,5月u(单位缺陷数)控制图设个检查单位各自的缺陷数分别为随机变量则平均单位缺陷数为:U过程的单位缺陷数第93页,共98页,星期六,2024
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