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摘要
CCD,即电荷耦合器件（ChargeCoupledDevices）,作为一种固体图像传感器，CCD被广泛应用在科学技术研
究、工业生产和安全风险防护等多种行业和领域，在瞬态捕获、高精度测量、实时自动化控制、遥感、夜视以及监控等许多方面起到了不可忽视的作用。在某些特殊场合，CCD成像的质量有极高要求，因此对CCD可能受到的干扰的研究及其处理就非常必要。本文采用实验研究与理论分析结合的方法，分析了可调强光与可见光线阵CCD的干扰效应，通过TCD1304芯片采集了相关数据，并对实验数据和现象进行比对分析，得出了相关结论。本文主要工作如下：1、强光与CCD
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