不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(10)申请公布号CN104793372A

(43)申请公布日2015.07.22

(21)申请号CN201510241961.6

(22)申请日2015.05.12

(71)申请人武汉精测电子技术股份有限公司

地址430070湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼

(72)发明人彭骞李昂刘荣华雷新军严运思帅敏陈凯沈亚非

(74)专利代理机构武汉开元知识产权代理有限公司

代理人黄行军

(51)Int.CI

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

不同产线液晶模组的缺陷等级判定

方法

(57)摘要

本发明公开了一种不同产线液晶模

组的缺陷等级判定方法，该方法中上位机

通过网络连接图形发生器和液晶模组制造

执行系统服务器，用户通过外部文本编辑

工具根据特定的格式编辑缺陷等级初始化

文件，实现在线模式下的液晶模组缺陷等

级判定功能，上位机程序通过解析用户自

定义编辑的缺陷等级初始化文件，把适合

当前产线的缺陷等级及缺陷代码显示给用

户，供用户选择，不再由上位机程序内部

写入，降低了上位机程序的代码量。

法律状态

法律状态公告日法律状态信息法律状态

权利要求说明书

1.一种不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法，其特征在于，它包括

如下步骤：

步骤1：在上位机上层应用软件的系统配置初始化文件中根据当

前液晶模组的尺寸及信号类型，配置当前液晶模组所需的缺陷等

级，然后在上位机上层应用软件的缺陷等级文件夹下，通过外部文

本编辑工具编辑与上述当前液晶模组产线所需缺陷等级对应的缺陷

等级初始化文件，再将当前液晶模组产线所需缺陷等级与对应的缺

陷等级初始化文件通过文件名匹配的形式进行匹配；

步骤2：在上位机外部文本编辑工具中对上述生成的缺陷等级初

始化文件进行编辑，上述缺陷等级初始化文件编辑过程采用如下的

分级阵列编辑模式；

由于缺陷等级由缺陷类型、缺陷名称和缺陷描述这三级组成，

所以缺陷等级初始化文件分为对应的三级界面进行编辑，其中的第

一级界面为缺陷类型编辑界面，第二级界面为缺陷名称编辑界面，

第三级界面为缺陷描述编辑界面；

步骤3：在上位机外部文本编辑工具中将上述缺陷类型编辑界面

中的长度键值内的行数和列数根据现有的《液晶模组缺陷等级判定

标准》进行设置，长度键值内的行数和列数表示缺陷类型的矩阵，

同时，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》对缺陷类型编辑

界面中的矩阵键值及该矩阵键值对应的缺陷类型进行设置；

步骤4：在上述缺陷名称编辑界面中，根据现有的《液晶模组缺

陷等级判定标准》设置上述缺陷类型编辑界面内的每个缺陷类型所

对应的缺陷名称，同时，在缺陷名称编辑界面的长度键值内设置上

述每个缺陷类型所对应缺陷名称的矩阵行数和列数；

步骤5：在上述缺陷描述编辑界面中，根据现有的《液晶模组缺

陷等级判定标准》设置上述缺陷名称编辑界面内每个缺陷名称对应

的缺陷描述；

步骤6：在上位机上层应用软件的缺陷等级判定界面中，上位机

程序根据当前液晶模组的配置初始化文件中设置的缺陷

等级，显示出当前液晶模组所需的缺陷等级，上位机解析步骤2～

5编辑的缺陷等级初始化文件中的编辑内容，并找出当前液晶模组所

需缺陷等级所对应的缺陷等级初始化文件编辑内容，供用户选择。