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(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利说明书
(10)申请公布号CN1696632A
(43)申请公布日2005.11.16
(21)申请号CN200510072558.1
(22)申请日2005.05.13
(71)申请人中国科学院上海光学精密机械研究所
地址201800上海市800-211邮政信箱
(72)发明人薄锋朱健强师树恒王勇
(74)专利代理机构上海新天专利代理有限公司
代理人张泽纯
(51)Int.CI
G01M11/02
G01N21/21
权利要求说明书说明书幅图
(54)发明名称
晶体消光比半波电压及波片相位延
迟的智能综合测量仪
(57)摘要
一种晶体消光比半波电压及波片相
位延迟的智能综合测量仪,其构成是:在
一脉冲调制光源的光束前进方向呈45°地设
一分光镜,在该分光镜的透射方向依次是
起偏器、待测样品、检偏器、第一光电探
测器、第一解调及放大电路和第一A/D转
换器,该第一A/D转换器的信号线接计算
机;该计算机的第一输出通过第一步进电
机驱动检偏器绕光轴旋转,该计算机的第
二输出通过第二步进电机驱动待测样品绕
光轴旋转;在分光镜的反射方向依次是衰
减片、第二光电探测器、第二解调及放大
电路、第二A/D转换器,该第二A/D转换
器的信号线接计算机。本发明不仅能在一
台仪器完成多个参数的综合测量,而且具
有测量精度高、可靠性好、操作方便的特
点。
法律状态
法律状态公告日法律状态信息法律状态
权利要求说明书
1、一种智能化晶体消光比、半波电压和波片相位延迟的综合测量仪,特征在于其
构成:一脉冲调制光源(1),在该脉冲调制光源(1)的光束前进方向呈45°设一分光镜
(2),在该分光镜(2)的透射方向依次是起偏器(3)、待测样品(4)、检偏器(5)、第一光
电探测器(6)、第一解调及放大电路(7)和第一A/D转换器(8),该第一A/D转换器(8)
的信号线接计算机(9)的第一输入端;该计算机(9)的第一输出通过第一步进电机(10)
驱动检偏器(5)绕光轴旋转运动,该计算机(9)的第二输出通过第二步进电机(11)驱动
待测样品(4)绕光轴旋转运动;在所述分光镜(2)的反射方向依次是衰减片(12)、第二
光电探测器(13)、第二解调及放大电路(14)、第二A/D转换器(15),该第二A/D转
换器(15)的信号线接计算机(9)的第二输入端。
2、根据权利要求1所述的智能化晶体消光比、半波电压和波片相位延迟的综合测
量仪,其特征在于所述的待测样品台设有两直流电极与一直流电源相连。
说明书
技术领域
本发明与晶体有关,属于偏振光学物理检测仪器,特别是一种晶体消光比、半波电
压及波片相位延迟的智能综合测量仪。
背景技术
晶体的消光比和半波电压是衡量晶体光学性能的重要参数,反映了晶体内部可能存
在的缺陷,如内应力、光学不均匀等,晶体的消光比和半波电压越小,说明晶体的
光学质量越好。晶体消光比测量的准确性直接影响晶体的研制、生产和应用。同样,
如果晶体的半波电压很高,会给Q开关的驱动电源带来很多麻烦,在Q开关精加
工以前,对其半波电压的测试筛选是非常必要的。
波片是物理光学中最基本和常用的光学元件之一,在光学隔离、偏光干涉中,常需
要精确测量波片的相位延迟。随着现代工业和科学技术的发展,波片在光学仪器中
起着越来越重要的作用,对波片精度要求越来越高,波片本身的精度检测也成为波
片制造中的一个重要任务。
测量晶体消光比、半波电压和波片相位延迟的传统方法是工作人员直接用光功率计
探测光强。该方法操作步骤繁琐,测量精度低,消光比只能测到10sup-2/sup
或10sup-3/sup,而且只是处在实验室应用阶段,目前国内市场上还没有相应
的综合测量
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