LCD检验标准(3.5及以上).pdfVIP

1.0目的

指导员工按照此检验标准严格检验，为检验提供统一标准

2.0适用范围

本检验标准适合于3.5”及以上所有TFT。

3.0定义

可视区：有效的显示区域，如下图所示。

C区：视区外

B区：视区（V.A）

封口

A区：（A.A）

边框

ITO引线边

4.0抽样标准参照MIL-STD-105ELEVEL=IIAQL允收标准：致命缺陷（CR）AC=0，主要缺陷（MAJ）=0.25次

要缺陷（MIN）=0.65致命缺陷是指影响TFT产品严重功能性不良，如串笔，漏笔等；主要缺陷是指影响TFT产品质

量的严重不良，如内刮等；次要缺陷是指对TFT产品的质量影响轻微的不良，如条纹PI，亮点等．

5.0检验条件及方法

5.1外观检查方法

在光照度为1000±200lux的日光灯下，眼睛

距离待检玻璃30CM±10CM；观察角度从垂直

方向前后左右偏45度:

5.2除表面外观部分，ITO走线部分用显微镜检验(参照6.2判断标准)

5.3外观检查项目祥述及判定标准

5.3.1点大小D计算

(X+Y)/2=点大小

5.3.2若缺陷长为宽的2.5倍以上，则视为划痕和线状缺陷

6.0主要检验项目

检验项目内容缺陷级别判定标准

检测项目不良问题描述缺陷判断主要检测检测工具

不良现象相应不良图片级别标准位置

a.表面脏点、（能用酒精擦拭掉的不良将不作不良记MIN参考整个TFT眼睛、菲林尺

线不良录）表1

b.ITO短路、CR0IC、FPC压显微镜

断路贴部位

1.表面质量

断路短路

（抽样标准c.ITO划伤CR0IC、FPC压显微镜

MIL-STD-105E贴部位

LEVEL=IIAQL

允收标准：致命

缺陷（CR）AC=0，划伤划伤

主要缺陷（MAJ）d.ITO脱落CR0IC、FPC压显微镜

=0.25次要缺贴部位

陷(MIN）=0.65）

脱落脱落

e.ITO腐蚀