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题目薄壁容器内压应力测定平板封头锥形封头本文旨在对薄壁容器承受内压作用时,筒体及封头平板封头锥形封头上的应力分布进行测定比较实验结果与理论计算结果,分析产生差异的原因实验设备包括中低容量容器设计的薄壁理论分析模型中低容量容器结构简化后的薄壁理论分析模型中低容量容器结构简化后的薄壁理论分析模型和中低容量容器结构简化后的薄壁理论分析模型该方法主要利用电测法和光弹法两种方法,其中后者适用于压力容器的应力分析和强度设计,而前两者则适用于静态应力测量电测法是通过测量容
薄壁容器内压应力测定〔平板封头、锥形封头〕
一、试验目的
测定薄壁容器承受内压作用时,筒体及封头〔平板封头、锥形封头〕上的应力分布。
比较实测应力与理论计算应力,分析它们产生差异的缘由。
了解“应变电测法”测定容器应力的根本原理和把握试验操作技能。
二、原理说明
由中低容器设计的薄壳理论分析可知,薄壁回转容器在承受内压作用时,圆
筒壁上任一点将产生两个方向的应力,经向应力
和环向应力。在实际工程中,
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不少构造由于外形与受力较简单,进展理论分析时,困难较大;或是对于一些重要构造在进展理论分析的同时,还需对模型或实际构造进展应力测定,以验证理论分析的牢靠性和设计的准确性;所以,试验应力分析在
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