半导体器件综合测试实验报告.docx

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试验目的

了解、生疏半导体器件测试仪器,半导体器件的特性,并测得器件的特性参数。把握半导体管特性图示仪的使用方法,把握测量晶体管输入输出特性的测量方法;

测量不同材料的霍尔元件在常温下的不同条件下〔磁场、霍尔电流〕下的霍尔电压,并依据试验结果全面分析、争论。

试验内容

测试3AX31B、3DG6D的放大、饱和、击穿等特性曲线,依据图示曲线计算晶体管的放大倍数;

测量霍尔元件不等位电势,测霍尔电压,在电磁铁励磁电流下测霍尔电压。

试验仪器

XJ4810图示仪、示波器、三极管、霍尔效应试验装置。

试验原理

三极管的主要参数

直流放大系数

共放射极直流放大系数?

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