(高清版)BT 40128-2021 表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法.pdfVIP

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CCSG04

中华人民共和国国家标准

GB/T40128—2021

表面化学分析原子力显微术

二硫化钼片层材料厚度测量方法

Surfacechemicalanalysis—Atomicforcemicroscopy—Testmethodfor

thicknessofthetwo-dimensionallayeredmolybdenumdisulfidenanosheets

2021-05-21发布2021-12-01实施

国家市场监督管理总局

国家标准化管理委员会发布

GB/T40128—2021

目次

前言Ⅲ

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4方法概述2

5仪器设备3

6试剂与材料4

7样品制备4

8测量步骤4

9测量报告9

附录A(资料性)层状MoS₂纳米片的制备方法及形貌表征10

附录B(资料性)层状MoS₂纳米片厚度测量实例12

附录C(资料性)推荐的测量报告格式16

参考文献17

I

GB/T40128—2021

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。

本文件起草单位：国家纳米科学中心、上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司、上海市计

量测试技术研究院、北京粉体技术协会。

本文件主要起草人：朱晓阳、朱君、常怀秋、齐笑迎、蔡潇雨、周素红。

Ⅲ

GB/T40128—2021

表面化学分析原子力显微术

二硫化钼片层材料厚度测量方法

1范围

本文件规定了利用原子力显微术测量层状二硫化钼纳米片厚度的测量方法。

本文件适用于转移或生长在固体衬底表面的层状二硫化钼纳米片厚度的测量，测量范围从单层二

硫化钼纳米片至厚度不大于100nm,其他类似的纳米片层材料厚度测量也可参照此方法进行。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文

件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日