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《光学和光子学环境试验方法第22部分:低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验gb/t12085.22-2022》详细解读;;;;;详细阐述了光学和光子学产品在低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验中的具体要求。;;;;;;GB/T12085《光学和光子学环境试验方法》系列标准的其他部分;;低温贮存试验;将受试样品在不通电状态下贮存于设定高温环境中,验证其在高温条件下的贮存适应性。;温度变化与碰撞综合试验
将受试样品先暴露在设定的温度变化环境中,然后在特定时间点施加碰撞应力,以评估其在温度变化和机械应力综合作用下的性能。;;;温度稳定时间;明确碰撞的类型,如半正弦波、后峰锯齿波等,以模拟不同碰撞情况对试验样品的影响。;振动频率范围;;低温、高温或温度变化试验条件;明确试验中所采用的振动类型(如碰撞、随机振动等)以及振动的量级,以模拟实际使用中可能遇到的振动环境。;综合环境应力剖面;;;根据标准规定,选择适当的光学或光子学组件作为试验样品。;6.2试验步骤;;;;;选择合适的标记方法;;低温试验设备;;;;;目的;;综合应用低温、高温、温度变化、碰撞和随机振动等环境应力。;;;;THANKS
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