MULTISIM——直接耦合多级放大电路的调试.docx

河南城建学院

《模拟电子技术》课程设计任务书

班 级

专 业

课程名称

指导教师姓 名

学 号

0924131-2

自动化

模拟电子技术贺伟

吕

电气与信息工程学院

2014年12月

MULTISIM——直接耦合多级放大电路的调试

一、 题目

两级直接耦合放大电路的调试一、实验目的

熟悉差动放大电路电路的特点和工作原理。

掌握直接耦合放大电路静态工作点的调整和测试方法。

两级直接耦合放大电路的调整和测试方法二、实验仪器与器材

模拟电子实验箱 一台

万用表 一块

3 电压表 一块

双踪示波器 一台

元器件：不同型号的电阻、电容、二极管、三极管 若干个三、实验原理及步骤

1、直接耦合多级放大电路

图1为两级直接耦合放大电路，第一级为双端输入、单端输出差分放大电路，第二级为共射放大电路。由于在分立元件中很难找到在任何温度下均具有完全相同特性的两只晶体管，因而通过电位器来调节其对称性，使其实现共模抑制比很高的差分放大电路。

图1 两级直接耦合放大电路

2、实验步骤

调整电路的静态工作点，使电路在输入电压为零时输出电压为零。用直流电压表测Q2、Q3集电极静态电位。

测试电路的电压放大倍数，输入电压是峰值为2mV的正弦波，从示波器可读出输出电压的峰值，由此得电压放大倍数。

测试电路的共模抑制比。加共模信号，从示波器可读出输出电压的峰值，得共模放大倍数，从而得共模抑制比

二、仿真电路

图（1）中所示电路为两级直接耦合放大电路，第一级为双端输入、单端输出差分放大电路，第二级为共射放大电路。

由于在分立元件中很难找到在任何温度下均具有完全相同特性的两只晶体管，因而也就很难实现共模抑制比很高的差分放大电路。在MULTISIM环境下可以做到两只晶体管特性基本相同。

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