《多光路光轴平行性测试方法38256-2019》详细解读.pptx

《多光路光轴平行性测试方法38256-2019》详细解读

contents目录1范围2术语和定义3测试方法分类及原理3.1测试方法分类3.2全口径覆盖法测试原理3.3分束法测试原理4测试设备4.1设备选择

contents目录4.2设备要求5测试环境5.1室内测试环境5.2外场测试环境6测试程序6.1可见/红外成像系统光轴平行性测试6.2激光发射系统光轴与红外成像系统光轴平行性测试6.3激光发射系统光轴与可见成像系统光轴平行性测试

contents目录7测试数据处理附录A(规范性附录)大口径平行光管出射光束平行性五棱镜校验方法附录B(规范性附录)分束组件校验方法附录C(资料性附录)光轴平行性测试记录

011范围

0102适用范围适用于多光路光学系统中各光路光轴平行性的测试，包括但不限于望远镜、显微镜、摄影镜头等。本标准规定了多光路光轴平行性测试方法的术语和定义、测试条件、测试设备、测试方法、数据处理及测试报告等要求。

涉及光学系统的设计和制造，特别是多光路光学系统的光轴平行性控制。为光学系统的光轴平行性提供准确的测试方法和计量标准。光学领域计量领域涉及领域

不适用范围本标准不适用于单光路光学系统或其他非多光路光学系统的光轴平行性测试。对于特殊光学系统（如非球面系统、自由曲面系统等）的光轴平行性测试，可能需要根据具体情况进行适当调整或制定专用测试方法。

022术语和定义

定义光轴是指光线在光学系统中传播的中心线，也是光学元件的对称轴。说明在《多光路光轴平行性测试方法38256-2019》中，光轴是测试多光路平行性的重要参考。2.1光轴

光轴平行性是指多个光路之间的光轴相互平行的程度。定义光轴平行性受光学元件的制造精度、装配误差以及使用环境等因素的影响。影响因素光轴平行性是评价光学系统性能的重要指标之一，对于成像质量、光斑形状等具有关键影响。重要性2.2光轴平行性

03结果判定根据测试数据，判定多光路的光轴平行性是否符合相关标准或设计要求。01概述本测试方法是通过特定的仪器和设备，对多光路的光轴平行性进行检测和评估的过程。02测试步骤包括准备测试环境、安装测试设备、进行光路调整、数据采集与分析等步骤。2.3测试方法

设备种类测试设备包括平行光管、光电探测器、数据采集与处理系统等。设备选用原则根据测试需求、预算以及设备性能等因素，合理选用适合的测试设备。设备校准与维护定期对测试设备进行校准和维护，确保测试结果的准确性和可靠性。2.4测试设备

033测试方法分类及原理

123通过特定的测量设备直接对多光路光轴的平行性进行测量，获取直观准确的测试结果。直接测量法通过对与光轴平行性相关的其他参数进行测量，再经过计算分析得出光轴平行性的测试结果。间接测量法选取一个已知平行性良好的标准光路，将被测光路与标准光路进行比较，从而得出被测光路的平行性。比较测量法3.1测试方法分类

基于光线在空间中沿直线传播的特性，通过测量光线在不同光路中的传输情况，分析光轴的平行性。光线传输原理利用光电转换器件将光信号转换为电信号，便于对光轴平行性进行精确的测量和分析。光电转换原理采用高分辨率、高灵敏度的图像传感器捕捉光斑图像，通过图像处理算法提取光斑位置信息，进而评估多光路光轴的平行性。图像处理技术对测量数据进行统计、拟合和分析，得出光轴平行性的具体指标和结论，为光路系统的调试和优化提供依据。数据分析与处理方法3.2测试原理

043.1测试方法分类

定义与原理直接测量法是通过特定的测量设备，直接获取光轴平行性的相关数据。优点与局限性这种方法具有直观、快速的优点，但对测量设备的精度和稳定性要求较高。应用场景适用于对光轴平行性要求较高的精密光学系统。3.1.1直接测量法

间接测量法是通过测量与光轴平行性相关的其他参数，再经过计算间接得到光轴平行性的数据。定义与原理这种方法可以在某些无法直接测量的场合下使用，但计算过程可能较为复杂，且受到其他参数测量误差的影响。优点与局限性适用于一些难以直接测量的复杂光学系统。应用场景3.1.2间接测量法

定义与原理比较测量法是通过与已知光轴平行性的标准光学元件进行比较，从而判断被测光学元件的光轴平行性。优点与局限性这种方法简单易行，但受到标准光学元件的精度和稳定性的限制。应用场景适用于大批量的光学元件检测，以及现场快速检测等场合。3.1.3比较测量法

定义与原理这种方法可以实现非接触式测量，且精度较高，但对图像处理技术的要求较高，且可能受到环境光等因素的干扰。优点与局限性应用场景适用于对光轴平行性要求较高且便于采集图像的场合，如摄像机、望远镜等光学系统的检测。图像分析法是通过采集被测光学系统的图像，并利用图像处理技术对光轴平行性进行分