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材料分析测试技术试题库

一、填空题：（20分，每空一分）

1.X射线管主要由、、和构成。

2.X射线透过物质时产生的物理效应

有：、、、和。

3.德拜照相法中的底片安装方法有：、和

三种。

4.X射线物相分析方法分：分析和分析两种；测钢

中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的分析方法。

5.透射电子显微镜的分辨率主要受和

两因素影响。

6.今天复型技术主要应用于来揭取第二相微小颗粒进

行分析。

7.电子探针包括和两种成分分析仪器。

8.扫描电子显微镜常用的信号是和。

二、选择题：（16分，每题二分）

1.X射线衍射方法中最常用的方法是（）。

a．劳厄法；b．粉末多晶法；c．周转晶体法。

2.已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（）。

a．Co；b.Ni；c.Fe。

3.X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采

用（）。

a．哈氏无机数值索引；b.芬克无机数值索引；c.戴维无机字母

索引。

4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（）。

a．第二聚光镜光阑；b.物镜光阑；c.选区光阑。

5.透射电子显微镜中可以消除的像差是（）。

a．球差；b.像散；c.色差。

6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（）。

a．高阶劳厄斑点；b.超结构斑点；c.二次衍射斑点。

7.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚

表层成分的信号是（）。

a．背散射电子；b.俄歇电子；c.特征X射线。

8.中心暗场像的成像操作方法是（）。

a．以物镜光栏套住透射斑；b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将

衍射斑移至中心并以物。

三、问答题：（40分，每题10分）

1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？

将多晶粉末压在样品框内制成。粉末微粒线度约为微米至几十微

米。过粗的粉末难以成形（因一般不加粘结剂），且由于照射的

颗粒数少，衍射强度照得不稳定。过细的微晶使衍射线宽化、不

明锐，并可妨碍弱线的出现。样品框孔约20mm×15mm，厚2

mm。金属、岩石、塑料等也可采用块状样品，照射处最好经磨

平浸蚀。

2.分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些？它有哪些功

能？在材料科学中有什么应用？

答：透射电子显微镜的主要组成部分是：照明系统，成像系统和观察记录系统。

透射电镜有两大主要功能，即观察材料内部组织形貌和进行电子衍射以了解选区

的晶体结构。分析型透镜除此以外还可以增加特征X