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本发明公开了一种显示面板内部TFT器件电学性能测量方法,涉及电学测量技术领域。所述方法包括:使用镭射机台将待量测TFT器件的被测端子的走线镭射断开;将探针的尖端分别放置于被测端子的镭射凹槽内,所述探针内设置有焊料通道,所述焊料通道的末端设置有溢流孔;通过推进组件将焊丝向焊料通道末端推进,然后采用设置于所述焊料通道的下端的加热组件对所述焊丝进行加热使其熔融,再通过所述溢流孔流出;关闭加热组件,探针通过凝固的焊料在镭射凹槽内与待量测的TFT器件的金属走线连通。本发明提供的一种显示面板内部TFT器件电
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117607644A
(43)申请公布日2024.02.27
(21)申请号202311328966.3
(22)申请日2023.10.13
(71)申请人华映科技(集团)股份有限公司
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