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该一种发光二极管晶片连续检测装置,包括检测箱体,检测箱体的任意一侧安装有存放槽体,存放槽体的远离检测箱体一侧的上方和存放槽体的远离存放槽体的一侧上方均安装有固定侧板,两个固定侧板之间转动安装有丝杠,丝杠上配合安装有丝母,丝母的底部安装有伸缩杆,伸缩杆的底部安装有夹取爪,丝母的上方安装有夹取控制器,检测箱体的内部安装有活动检测机构,本实用新型通过活动检测机构和摆动收集机构的配合,使得发光二极管晶片顺着导向板可以直接落入成品收集箱或次品收集箱中,省去夹爪夹取和移动的步骤,减少了发光二极管晶片的成品和
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220514791U
(45)授权公告日2024.02.23
(21)申请号202321258598.5
(22)申请日2023.05.23
(73)专利权人高博(鞍山)半导体有限公司
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