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本发明公开了一种芯片优化的方法及系统,涉及芯片优化技术领域,该系统包括芯片性能分析模块、芯片优化选择模块、信号完整性分析模块、仿真测试评估模块以及对比执行模块;其技术要点为:采用不同优化方案的芯片进行模拟运行后,通过对各个优化方案下芯片的信号完整性进行分析后,实现对优化方案的初步筛选,而后将剩余的优化方案进行模拟运行,通过计算并对比各个优化方案下对应的芯片测试性能评估值Ctp,可准确、高效的得出能够保证芯片性能最佳的对应优化方案,保证了芯片优化效果,并在一定程度上提高了芯片的性能和工作效率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117592410A
(43)申请公布日2024.02.23
(21)申请号202311651332.1
(22)申请日2023.12.05
(71)申请人北京瀚骏科技有限公司
地址10
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