一种改善注入晶圆翘曲的方法和压电单晶薄膜及其制备方法.pdfVIP

一种改善注入晶圆翘曲的方法和压电单晶薄膜及其制备方法.pdf

  1. 1、本文档共25页,其中可免费阅读24页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
  2. 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
  3. 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  4. 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明提供了一种改善注入晶圆翘曲的方法和压电单晶薄膜及其制备方法,包括将压电晶圆依次与第一支撑衬底和第二支撑衬底进行两次晶圆键合,得到具有刚性的复合键合结构,抑制所述压电晶圆在离子注入过程中产生的热应力。采用本发明的技术方案,通过将压电晶圆预先与支撑衬底进行键合,获得刚性键合结构,可以有效地抑制压电晶圆发生不均匀的热膨胀,极大地改善了在离子注入过程中导致的晶圆翘曲问题,提高压电单晶薄膜的成品率。

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117597008A

(43)申请公布日2024.02.23

(21)申请号202410078589.0

(22)申请日2024.01.19

(71)申请人苏州达波新材科技有限公司

地址

您可能关注的文档

文档评论(0)

知识产权出版社 + 关注
官方认证
文档贡献者

知识产权出版社有限责任公司(原名专利文献出版社)成立于1980年8月,由国家知识产权局主管、主办。长期以来, 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作, 经过多年来的积累,已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。

认证主体北京中献电子技术开发有限公司
IP属地四川
统一社会信用代码/组织机构代码
91110108102011667U

1亿VIP精品文档

相关文档