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本发明涉及芯片测试领域,特别是涉及一种SAS总线注错方法、装置、设备、介质及注错芯片。本发明所提供的SAS总线注错方法,通过获取注错指令;接收物理层的待处理数据;扫描所述待处理数据,确定所述待处理数据中的匹配标识符;根据所述匹配标识符及所述注错指令,对所述待处理数据进行修改,得到错误数据。本发明提供的SAS总线注错方法中的芯片注错的方法很接近实际系统易错点,完善了芯片错误处理流程,大大提高了基于SAS接口的控制器芯片验证、测试效率,也提高了测试结果的准确性,提升了经过测试验证的芯片的工作可靠性,
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117573447A
(43)申请公布日2024.02.20
(21)申请号202311517053.6
(22)申请日2023.11.15
(71)申请人杭州华澜微电子股份有限公司
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