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本实用新型公开了一种用于半导体器件做惯性过载试验的夹具,通过惯性力试验半导体器件的耐受过载能力;所述夹具包括载件盘和上盖;所述载件盘用于安装待试验半导体器件;所述上盖安装在载件盘上,所述上盖设有4个凸脚与载件盘相应凹槽配合,用于限制器件的竖向运动;上盖和载件盘之间通过螺钉进行紧固。本试验夹具以载件盘的中心轴线对称分布20个载件槽,可同时对20个半导体器件进行过载试验,便于半导体器件安装,筛选效率高,一个夹具即可适用于半导体器件正和反两个方向的过载试验需求。
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220508420U
(45)授权公告日2024.02.20
(21)申请号202320466319.8
(22)申请日2023.03.13
(73)专利权人南京拓曼思电气科技有限公司
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