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本申请实施例涉及接口测试技术领域，公开了一种硬盘背板接口的测试电路及测试设备，该测试电路包括：第一接口单元，用于与硬盘背板的U.3接口连接；第二接口单元，为M.2接口，用于与适配M.2接口的硬盘连接，第二接口单元与第一接口单元电连接；控制单元，与第一接口单元电连接，用于在第一接口单元与硬盘背板的U.3接口连接且第二接口单元与硬盘连接时，通过第一接口单元向U.3接口的输入设备判断引脚输入电平信号，以基于硬盘背板与硬盘之间通过第一接口单元和第二接口单元的通信情况，对硬盘背板进行测试。通过上述方式，本
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117421168A
(43)申请公布日2024.01.19
(21)申请号202311425023.2
(22)申请日2023.10.27
(71)申请人深圳市亿万克数据设备科技有限公
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