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本发明提供了一种快闪存储器的质量分析方法、装置、电子设备及介质,包括如下步骤:对待测试的快闪存储器中的闪存块进行编号,以生成每个闪存块的编号数据,基于预设的分组规则,对闪存块进行分组处理,以生成多个闪存块组,分组规则包括闪存块组的数量以及每个闪存块组包含的闪存块的编号数据,为每个闪存块组分别确定对应的目标擦写次数,基于每个闪存块组对应的目标擦写次数,对每个闪存块组包含的闪存块进行相应次数的擦写操作,对进行擦写操作后的闪存块进行质量分析,以生成质量分析数据。本发明在分析快闪存储器进行擦写操作后的闪
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117409843A
(43)申请公布日2024.01.16
(21)申请号202311716583.3
(22)申请日2023.12.14
(71)申请人合肥康芯威存储技术有限公司
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