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(AFM)原子力显微镜原理介绍.docx

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    原子力显微镜(AFM)原理

    一、原理

    原子力显微镜(AtomicForceMicroscopy,AFM)是由IBM公司的Binnig与史丹佛大学的Quate于一九八五年所制造的，其目的是为了使非导体也可以承受扫描探针显微镜〔SPM〕进展观测。

    图1、原子与原子之间的交互作用力由于彼此之间的距离的不同而有所不同，其之间的能量表示也会不同。

    原子力显微镜〔AFM〕与扫描隧道显微镜〔STM〕最大的差异在于并非利用电子隧道效应，而是利用原子之间的范德华力〔VanDerWaalsForce〕作用来呈现样品的外表特性。假设两个原子中，一个是在悬臂

    〔cantilever〕的探针尖端，另

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