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DFT的外企笔试题.docxVIP

DFT的外企笔试题.docx

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    DFT的外企笔试题

    DFT的外企笔试题

    2010年06月01日星期二16:00

    1.题目：如图为一组合逻辑电路芯片，由于某种技术问题，这个芯片在图上红圈ERR处产生了stuckat0或stuckat1的bug，请设计2个??testvectors以便找出这两个bug。图在下面：

    对1:要做出错误点的状态测试,必须把其他相关的引脚设置为固定的状态,并对错误点不影响,

    (1)out=0时,可测试到错误点,所以F=0,E=1,D=0;

    (2)A或B,必须有一个为0,因B与错误点相关(不能是固定值),所以A=0;

    (3)B和C是错误点的直接测试pin,只需设定他们的值,b=0,c=1可以测试出是stuckat1,b=1,c=0(或其他值)可测出stuckat0

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