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常州大学集成电路设计课后习题

第一章

1、按规模划分,集成电路的发展已经经历了哪几代?它的发展遵循了一条业界著名的定律,请说出是什么定律?

答:集成电路发展历程:小规模集成(SSI)→中规模集成(MSI)→大规模集成(LSI)→超大规模集成电路(VLSI)→特大规模集成电路(ULSI)→GSI→SoC。

Intel公司前董事长GordonMoore首次于1965提出摩尔定律。

2、什么是无生产线集成电路设计?列出无生产线集成电路设计的特点和环境。

答:无生产线集成电路设计:集成电路的设计、工艺制造和封装分立运行,集成电路设计单位根据代工单位的设计包进行电路的设计。特点:只进行集成电路设计,与工艺制造,封装分立运行。

环境:IC产业生产能力剩余,客户需要更多的功能芯片设计。

3、多项目晶圆(MPW)技术的特点是什么?对发展集成电路设计有什么意义?

答:MPW的特点:把几到几十种工艺上兼容的芯片拼装到一个宏芯片上,然后按规则排列到一个晶圆上。

意义:可以有效地降低成本,加速产品的市场化。

4、集成电路设计需要哪4个方面的知识?

答:系统知识:计算机、通信、信息、控制学科;电路知识:更多的知识、技术和经验;工具知识:任务和内容→相应的软件工具;工艺知识:元器件的特性和模型、工艺原理和过程。

第二章

1、GaAs和InP材料各有哪些特点?

答:砷化镓(GaAs)特点:能工作在超高速超高频,载流子迁移率更高,近乎半绝缘的电阻率,fT可达150GHz,可制作发光器件,工作在更高的温度,更好的抗辐射性能。

磷化铟(InP):能够工作在超高速超高频;广泛应用于光纤通信系统中,覆盖了玻璃光纤的最小色散(1.3μm)和最小衰减(1.55μm)的两个窗口。适合做MESFETHEMTHBT

2、在怎样的条件下金属与半导体形成欧姆接触?在怎样的条件下金属与半导体形成肖特基接触?

答:欧姆接触:如果半导体掺杂浓度足够高,隧道效应抵消势垒的影响,形成了双向低欧姆电阻值。

肖特基型接触:金属和掺杂浓度较低半导体结合面形成。类似PN结3、说出多晶硅在CMOS工艺中的作用。

答:因为非掺杂的多晶硅薄层实质上是半绝缘的,电阻率为300W·cm。而通过不同杂质的组合后,多晶硅的电阻率可被控制在

500—0.005W·cm。因此,在MOS及双极器件中,多晶硅用于制作栅极、形成源极与漏极(或双极器件的基区与发射区)的欧姆接触、基本连线、薄PN结的扩散源、高值电阻等。

4、欧姆接触与肖特基接触各有什么特点?

答:肖特基接触:肖特基结具有类似PN结的伏安特性。欧姆型接触:载流子可以容易地利用量子隧穿效应相对自由地传输。

5、简述双极型晶体管和MOS晶体管的工作原理。

答:双极型晶体管是把输入端电流的微小变化放大后,在输出端输出一个大的电流变化,即小电流控制大电流。

而MOS晶体管是把输入电压的变化转化为输出电流的变化,即电压控制电流。

第三章

1、写出掩模在IC制造过程中的作用,比较整版掩模和单片掩模的区别,列出三种掩模的制造方法。

答:作用:从物理上讲,任何半导体器件及IC都是一系列互相联系的基本单元的组合。要制作出这些结构需要一套掩膜。一个光学掩膜通常是一块涂着特定图案铬薄层的石英玻璃片,一层掩膜对应一块IC的一个工艺层。工艺流程中需要的一套掩膜必须在工艺流程开始之前制作出来。

整版掩膜在一次曝光中,对应着一个芯片阵列的所有电路的图形都被映射到基片的光刻胶上。

单片掩膜上的图案仅对应着基片上芯片阵列中的一个单元。上面的图案可通过步进曝光机映射到整个基片上。

图案发生器制版,X射线制版,电子束扫描法制版。

2、写出光刻的作用,光刻有哪两种曝光方式?

答:作用:把掩膜上的图形转换成晶圆上的器件结构。曝光方式有接触式曝光与非接触式曝光两种。

3、说出半导体工艺中掺杂的作用,举出两种掺杂的方法并比较其优缺点。

答:掺杂的目的是以形成特定导电能力的材料区域,包括N型或P型半导体层和绝缘层。是制作各种半导体器件和IC的基本工艺。经过掺杂,原材料的部分原子被杂质原子代替。

热扩散掺杂和离子注入法。

热扩散是最早也是最简单的掺杂工艺,主要用于Si工艺。与热扩散相比,离子注入法的优点如下:1.掺杂的过程可通过调整杂质剂量与能量来精确控制杂质分布。2.可进行小剂量的掺杂。3.可进行极小深度的掺杂。4.较低的工业温度,故光刻胶可用作掩膜。5.可供掺杂的离子种类较多,离子注入法也可用于制作隔离区。缺点:价格昂贵,

大剂量注入时,半导体晶格会遭到严重破坏且难以恢复

第四章

1、什么是MOS工艺特征尺寸?

答:工艺可以实现的平面结构的最小宽度,通常指最小栅长。

2、为什么在栅长相同的情况下NMOS管速度要高于PMOS管?答:由于电子的迁移率μe大于空穴的迁移率μh

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