品管部SPC作业指导书.docx

1.0 目的：

了解过程变差，以帮助达到统计控制状态。

定义：

SPC------英文StatisticalProcessControl的字首简称，即统计过程控制。SPC就是应用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而达到改进与保证质量的目的。SPC强调全过程的预防。

控制图对过程质量加以测定、记录从而进行控制管理的一种用科学

方法设计的图。图上有中心线(CL)、控制界限(UCL)和下控制界限(LCL)，并有按时间顺序抽取的样本统计量数值的描点序列。

3.0 适用范围：

适用于均植和极差值(x一R 控制图)、不合格品率的P-Chart控制图、CPK的运用。

职责：

品管部现场QC负责收集数据绘制图表;

品管员负责输入SPC软件，品质主管分析过程控制能力。

作业内容：

x一R控制图对于计量值数据而言，这是最常用最基本的控制图。它用于控制对象为长度、重量、强度、纯度、时间和生产量等计量值的场合。

x控制图主要用于观察分布的均值的变化，R控制图用于观察分布的分散情况或变异度的变化，而x一R图则将二者联合运用，用于观察分布的变化。

P控制图用于控制对象为不合格品率或合格品率等计数值质量指标的场合。这里需要注意的是，在根据多种检查项目总

合起来确定不合格品率的情况，当控制图显示异常后难以找出异常的原因。因此，使用p图时应选择重要的检查项目作为判断不合格品的依据。常见的不良率有不合格品率、废品率、交货延迟率等等。

x一R控制图的制作：步骤1：记录原始数据；

试生产时至少需记录25组数据，每组5个数据，以作一张完整的x

—R控制图；

批量生产时由现场QC每两小时测量一次，每次记录5个数据。步骤2： 计算样本均值x；

x=(X1+X2+。。+Xn)/n

式中：X1，X2。。为子组内的每个测量值。n为子组的样本容量。步骤3： 计算样本极差R；

R=X最大值-X最小值

R

步骤4： 计算样本总均值x与平均样本极差 ；

1 ?n xi

1 ?n R

Rx=n i?1 =n i?1

R

步骤5： 计算R图与x图的控制界限。

计算x一R图应该从R图开始,因为x图的控制界限中包含R,所以若过程的变异度失控,则计算出来的这些控制界限就没有多大意义。

R图的控制界限计算公式如下：

UCL=D4R

3CL=RLCL=D R

3

x图的控制界限计算公式如下：

UCL=x+A2R

2CL=xLCL=x-A R

2

式中,系数A2、D3、D4见计量值控制图系数表如下：

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

D4

3．27

2．57

2．28

2．11

2．00

1．92

1．86

1．82

1．78

D3

*

*

*

*

*

0．08

0．14

0．18

0．22

A2

1．88

1．02

0．73

0．58

0．48

0．42

0．37

0．34

0．31

*对于样本容量小于7情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有极差的下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的。

第一次制作控制图时，控制界限的确定：

R图的控制界限以开始的5组数据计算，计算公式同上；

x图的控制界限以规格的上限作为UCL，规格的下限作为LCL，标准规格作为CL；

注：为了再次强调生产现场的所有控制的控制图的应用，还没有计算控制限（由于没足够的数据）的初期操作控制图上应清楚地注明“初始研究”字样。这样，这些标有“初始研究”的控制图，不论是用于能力的初次确定还是用于过程经过改进/改变后在研究，是仅允许用在生产现场中还没有控制限的过程控制图。

步骤6：标注控制图的刻度；

步骤7：将均值和极差画到控制图上。

重新计算控制限：

在进行初次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现并解决了的特殊原因的任何失控的点，重新计算新的过程均值、平均极差（R）和控制限，并画下来，确保当与新的控制限相比时，所有的数据点看起来都处于受控状态，如有必要，重复识别/纠正/重新计算的过程。

不合格品率的P-Chart控制图的制作：

当控制图的控制对象为不合格品率时,过程处于稳定状态是指任何单位产品不合格品的概率为一常数P且所生产的各个单位产品都是独立的。样本不合格品率p定义为样本不合格品数D与样本大小n的比值,即p=D/n

P-Chart制作步骤：

步骤1： 收集数据即产品不合格数检验；每送检一次由QA检验后记录一次。

步骤2： 计算样本不合格品率P；

p=D/n

式中：D为样本不合格品数；n为样本大小。步骤3