上线碱槽剥膜参数DOE分析.doc

上线碱槽剥膜参数DOE分析

I8000上线碱槽剥膜参数DOE分析

一、实验目的

针对碱槽剥膜的不良，研究分析影响剥膜不良的各种因子，首先通过第一阶段实验找出影响碱槽剥膜不良的显著因子，再通过第二阶段实验去寻找最优参数组合。二、因子筛选

1、碱槽剥膜原理介绍

碱槽剥膜为ITO触摸屏制作的关键步骤。针对I8000这个机种的上线为日东双层FILM材料(1220-2L-V270-TFME-340)，它的碱溶液配置成分为NaOH(氢氧化钠):H2O(纯水)，按照1:24的比率配制。碱槽的主要目的是利用碱溶液将FILM上印刷的耐酸剥掉，保留导电膜ITO。

2、因子选择

根据以往不良记录，产生的碱槽剥膜不良现象的原因有:耐酸厚度过大或偏小，传动速度太快或太慢，碱溶液的浓度过大过过小，喷压过大或过小，溶液温度过高或过低，材料放进蚀刻槽时操作不当等。

参数机器太高太快溶液温度稳定速度太低稳定性太慢太大太大不稳定溶液浓度喷压蚀太小太小刻

不

良太厚人员流失

耐酸厚度

合理正确

操作方法

错误原材料人员

以上不良中，材料放进蚀刻槽时操作不当,机器稳定性;这些是人员或机器的原因，因

,此在第一阶段实验可以忽略这些项目不良。同时，耐酸的印刷厚度要求为8~12m。

在第一阶段实验只考虑以下5个因子:速度，碱液浓度，温度，碱槽喷压和耐酸厚度。

三、第一阶段实验设计

1、因子水平对照表

水平12交互作用因子

A碱槽速度(m/min)1.52.5B碱液浓度(mol/L)0.30.6C溶液温度(?)25.035.0

2D碱槽喷压(kg/cm)0.51.5

耐酸厚度/,mF8.012.0

2、找显著因子

7每个实验号做50次实验，用L(2)统计实验结果如下:8

12345列号产量XK实验号ABCDF

11111127

21112231

31221138

41222240

52121240

62122142

72211243

82212146

K1361401471481153总产量K1711671601592154307

Q352713111

此得出:

S=153.125，S=91.125，S=21.125，S=15.125，S=0.125CABDF

计算总离差平方和:

Q=12063.00，S=281.88，S=1.25TTE

3、整理成方差分析表如下:

方差离差平平均离差自由度F值临界值显著性贡献率来源方和平方和

**A153.1251153.125367.50054.32%

**B91.125191.125218.70032.33%F(1,3)=0.01**C21.125121.12550.7007.49%

34.12**D15.125115.12536.3005.37%

F0.12510.1250.3000.04%误差1.25030.4170.44%总和100%281.8758

各因子贡献率统计

120.00%

100.00%100.00%99.51%99.56%94.15%86.65%80.00%

54.32%60.00%54.32%

32.33%40.00%贡献率

20.00%7.49%5.37%0.44%累计贡献率0.04%

0.00%

碱槽速度碱液浓度溶液温度碱槽喷压耐酸厚度其他

ABCDFe

4、第一阶段实验结论

由前面可以得出A，B，C，D为显著因子，它们总贡献率为99.51%，F为隐性因子。四、第二阶段实验设计

为了找出最佳的参数组合，故将第一阶段实验找出的显著因子A、B、C、D再进行第二阶段实验，每个因子拟3个水平，每个实验号做50次实验，实验结果如下:

1、因子水平对照表

水平123交互作用因子

碱槽速度(m/min)A2.02.42.8

B碱液浓度(mol/L)0.20.40.6

溶液温度(?)C253035

2D碱槽喷压(kg/cm)0.51.01.5

2、点线图

1

64

9

73

81152

133、用L(3)统计实验结果如下:27

12345678911产量列号

AB(A*B)(A*B)C(A*C)(A*C)(B*C)D(B*C)X121212K实验号

11111111111152111