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本实用新型公开了一种圆晶瑕疵检测暂存设备,涉及芯片检测技术领域,包括机身主体、操控区和指示区,检测区的存储区,台面和检测主体,台面的顶部安装有筛选组件,筛选组件包括双轴电机,双轴电机的输出端连接传动轴,转轮的安装有偏转轴,偏转轴背离转轮的一侧连接有偏转齿,台面的顶部安装有导轨,导轨的内部连接有齿条。本实用新型提供的圆晶瑕疵检测暂存设备通过设有检测盘、检测主体和筛选组件,当检测发现瑕疵时,通过双轴电机驱动传动轴进行旋转,使得齿条在偏转轴和偏转齿的影响下,推动检测盘进入存储区中,相较于传统方式,在检
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220290771U
(45)授权公告日2024.01.02
(21)申请号202321674527.3
(22)申请日2023.06.29
(73)专利权人易发智能装备(昆山)有限公司
地
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