GB_T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义.pdf

ICS31.200

CCSL56GB

集成电路电磁抗扰度测量

第1部分：通用条件和定义

(IEC62132-1:2015,IDT)

2023-09-07发布

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

目次

前言………………Ⅲ

引言………………………………IN

1范围…………………………1

2规范性引用文件……………1

3术语和定义…………………1

4试验条件……………………4

4.1通则……………………4

4.2环境条件………………4

4.3试验发生器……………4

4.4频率范围………………5

5试验设备……………………5

5.1概述……………………5

5.2屏蔽……………………5

5.3试验发生器和功率放大器……………5

5.4其他组件………………5

6试验布置……………………5

6.1通则……………………5

6.2试验电路板……………5

6.3引脚选择方案………………6

6.4IC引脚负载/终端…………………………6

6.5电源的要求……………6

6.6IC的特殊要求………………7

6.7IC时间稳定性…………………………7

7试验程序…………………………7

7.1监测检查……………………7

7.2人体暴露………………7

7.3系统验证………………7

7.4特殊程序………………8

8试验报告……………………9

8.1通则……………………9

8.2抗扰度限值或等级…………………………9

8.3IC性能分级……………9

8.4试验结果的说明………………………10