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本发明提供一种半导体多数据库批量数据分析系统,包括筛选模块、二维码提取模块、数据分析模块和输出模块,优先提取数据库目录中产品检测出现ERROR的产品编号,建立筛选列表录入被选产品编号;二维码提取模块读取被选产品编号,读取数据库目录信息提取该编号产品的检测二维码录入筛选列表;二维码数字化提取有效逻辑编号经过解密传输至各部门数据库,读取产品检测参数信息录入筛选列表,对比各数据库中录入的工艺标准对比,标注超差数据录入筛选列表;提取筛选列表排版后打印成纸质报告,达到了以下有益效果:该系统能联动多服务器实
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117251435A
(43)申请公布日2023.12.19
(21)申请号202310429458.8G06Q10/087(2023.01)
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