《中空玻璃露点仪校准规范》（征求意见稿）.docx

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中空玻璃露点仪校准规范

1范围

本规范适用于中空玻璃露点仪的校准。

2引用文件

本规范引用了下列文件：

JJF1001-2011通用计量术语及定义

JJF1059.1-2012测量不确定度评定与表示

JJF1071-2010国家计量校准规范编写规则

JJF1094-2002测量仪器特性评定

GB/T11944—2012《中空玻璃》

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，

其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规范。

3术语

以下术语和定义适用于本规范。

中空玻璃insulatingglassunit

两片或多片玻璃以有效支撑均匀隔开并周边粘接密封，使玻璃层间形成有干燥气体空间

的玻璃制品。[GB/T11944—2012,3.1]

4概述

中空玻璃露点仪（以下简称露点仪）是一种用于测定中空玻璃内气体露点温度的仪

器。根据制冷方式不同，主要分为半导体制冷式和干冰制冷式。

半导体制冷式中空玻璃露点仪主要由铜质测量面、制冷模块、温控模块以及冷水系统组成（图1为半导体制冷式中空玻璃露点仪示意图），其工作原理是采用半导体制冷方式使露点

仪测量面在短时间内降至设定温度，通过温控模块自动控制温度并显示测量面的温度值。

干冰制冷式中空玻璃露点仪主要由铜座测量管和温度计组成（图2为干冰制冷式中空玻璃露点仪示意图），其工作原理是利用干冰与乙醇或丙酮混合而成的制冷液使铜座（即测量面）

降温，通过调整干冰用量来控制温度，利用数字或玻璃液体温度计测量制冷液温度，即为露点仪

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温度。

图1半导体制冷式中空玻璃露点仪示意图

图2干冰制冷式中空玻璃露点仪示意图

5计量特性

中空玻璃露点仪的计量特性要求见表1。

表1中空玻璃露点仪计量特性要求

计量特性

半导体制冷式

干冰制冷式

示值误差

±1℃

±1℃

稳定性

1℃/10min

注：以上指标要求不用于合格性判断，仅供参考。

6校准条件

6.1环境条件

6.1.1环境温度：(23±2)℃;相对湿度：(30～75)%RH。

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6.1.2周围环境应无影响校准的冷热源、振动、电磁干扰、污染和腐蚀性气体等存在。

6.1.3如果校准用设备规定了正常使用的环境条件，应符合其规定。

6.2测量标准及其他设备

测量标准及其他设备技术要求见表2。

表2测量标准及其他设备技术要求

露点仪类型

设备名称

技术要求

半导体制冷式

表面热电阻

及配套电测设

备

1.对表面热电阻及其配套电测设备整体校准，其扩展不确定

度U（k=2）应不大于被校露点仪最大允许误差的1/3。

干冰制冷式

二等标准铂电阻

温度计及配套电

测设备

1.测温范围（-80～30）℃;

2.配套电测设备引用修正值后的相对误差应不大于3×10-5。

恒温槽

1.温度范围（-80～30）℃;

2.工作区域水平温差≤0.05℃;

3.工作区域最大温差≤0.10℃;

4.温度波动度≤0.10℃/10min。

注：也可以选用扩展不确定度不大于被校露点仪最大允许误差1/3的其他测量标准。

7校准项目和校准方法

7.1校准项目

校准项目见表3。

表3中空玻璃露点仪校准项目

校准项目

半导体制冷式

干冰制冷式

示值误差

+

+

稳定性

+

注：“＋”表示应校准，“-”表示不校准。

7.2校准方法

7.2.1校准前准备

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7.2.1.1用目测的方法进行检查。露点仪的外观结构应完好，不应有影响测量准确度的缺陷，标牌内容（名称、规格型号、制造厂及出厂编号）应齐全。

7.2.1.2半导体制冷式中空玻璃露点仪接通电源后，各部分的运行情况应正常。露点仪测量面在校准前应进行清洁处理，去掉影响测量准确度的污物。

7.2.1.3干冰制冷式中空玻璃露点仪温度计为数字温度计时，通电状态下，显示应正常。

7.2.2示值误差和稳定性

7.2.2.1校准点的选择

校准点一般选取-60℃、-55℃、-50℃、-45℃、-40℃,也可根据用户需要选择校准点。

7.2.2.2半导体制冷式中空玻璃露点仪示值误差和稳定性校准方法

将标准器测量端置于露点仪测量面中心位置，用胶带固定，使测量端与露点仪测量面紧密接触，然后用保温材料（如EPE板等）覆盖整个露点仪测量面并压紧，使测量面与保温材料紧密贴合，无明显空气缝隙。接通露点仪的电源。露点仪温度由低往高逐点校准，设定温度，待露