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半导体芯片测试系统操作说明指导书v
第一章系统概述
1.1系统概述
半导体芯片测试系统是使用我企业自主研发ZWL－900测试主机、快速光谱分析仪、高精度直流电源、高稳定交流电源、数显功率计等高精度仪器，配合人性化上位机软件，对HID、节能灯、LED模块等灯具测试光、色、电综合性能产品。
系统实现了真正传统仪器技术和虚拟仪器技术完美结合，既可直接经过仪表大屏幕液晶进行一系列测试，又可工作在计算机模式下进行多种测试并进行数据图形分析、存放及报表打印。另外，因为系统中快速光谱分析模块采取了光纤传输导光、CCD快速采集、高速数据转换系统、VC++计算机高效人机交换界面等一系列高新技术计量标准，确保了对在5ms～800ms内光谱功率分布图、半宽度、主波长、色品坐标等全部光谱参数测量。
系统模块化和高集成度确保了系统高可靠性，低温漂确保了系统反复性。同时，系统含有强大电源功效，最大输出恒流可达5A。
便利试验特征
清楚大屏幕液晶显示器
快捷式中英文操作按键
采取优异四线制测量，使得测量数据愈加正确
使用优异校准算法，能够提供测量性能强大曲线分析功效
连续性和一致性测试功效
使用高精度、高稳定性电源
灵活系统特征
RS232标准接口
配有功效强大软件，系统升级灵活
性能扩展方便
半导体芯片测试系统操作说明指导书v全文共1页，当前为第1页。开放式测试性能、齐全测试支架可满足不一样用户多种测试需求
半导体芯片测试系统操作说明指导书v全文共1页，当前为第1页。
1.2技术环境
操作系统：WindowsXP
处理器：为INTEL兼容处理器，主频1GHz以上。
系统内存：128M以上。
光谱分析，最少含有两个可用串口。
可适配打印机，进行报表打印。
半导体芯片测试系统主机及装置。
1.3产品特征
快速、稳定
系统使用独立高精度恒流电源模块，拥有优异快速光谱分析模块。采取等一系列高新技术计量标准，经过信号快速采集、导光、高速分析、高效计算，确保ms级测试速度和可见光波段光谱参数测试结果一致性。
适用性广
开放式测试、齐全测试夹具，利于多种规格灯具测试。
简便使用操作
人机交互界面友善，操作简捷，实现全程软件控制。
直观、完善测试分析系统
可系统性完成光色电参数高精度测试，并经过测试界面将测试结果以图形方法直观展现出来。
全部测试条件符合CIE相关标准。
半导体芯片测试系统操作说明指导书v全文共2页，当前为第2页。
半导体芯片测试系统操作说明指导书v全文共2页，当前为第2页。
1.4技术参数
功效
参数范围
精度
分辨率
电参数
正向电压测量
1.0000V～45.000V
≤5V：±0.2%键值+0.01V
＞5V：±0.2%键值
0.015V
驱动电流
0-5A
≤300mA：±0.2%键值+0.001A
＞300mA：±0.2%键值
1.5A，分辨率0.001A
≥1.5A，分辨率0.003A
光参数
光通量测量
0-4000.00lm
3%f.s.
0.001lm
色参数
波长范围
380-780nm
（可扩展测紫外、近红外）
＜600nm0.4nm
＞600nm1.0nm
0.19nm
显色指数
0-100
1
1
色品坐标
X、Y和U、V
0.003
0.0001
色温
1300-25000k
0.05%f.s
1K
1.5工作环境
环境温度：23℃±5℃
相对湿度：55％±25；
电源电压：220V±11V；
电源频率：50～60HZ；
半导体芯片测试系统操作说明指导书v全文共3页，当前为第3页。空间环境：无强烈机械振动、冲击、强电磁场。
半导体芯片测试系统操作说明指导书v全文共3页，当前为第3页。
第二章系统介绍
2.1软件开启
图2-1系统快捷方法
双击打开“半导体芯片测试系统”，即可开启软件。无需输入权限验证，系统开启后主界面以下图2-2所表示：
图2-2系统主界面
半导体芯片测试系统操作说明指导书v全文共4页，当前为第4页。软件开启前应该确保主机已经正确连接。点击重启系统初始化检测，检测过程会自动进行，假如发觉问题，系统会提醒犯错，用户依据提醒进行对应操作后，再点击重启系统初始化检测，再次检测系统。第3、4点需用户勾选确定对话框，来经过检测。检测经过后，系统会自动关闭系统初始化界面并进入操作界面。
半导体芯片测试系统操作说明指导书v全文共4页，当前为第4页。
2.2基础曲线测试介绍
基础曲线部分可进行：电流-电压、电流-光强、电流-光通量测试，这些不一样测试内容含有一致操作步骤，人性化操作界面。经过参数设置可进行快速简单测试和高精度试验室测试，满足各类用户测试需求。
2.2.1操作步骤
在进行全部方法测试操作前，用户必需优异行硬件系统和串口连接。测试步骤图2-3所表示：
图2-
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