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本发明公开了一种电子设备恶劣环境运行测试装置,包括测试箱,所述测试箱的下端固定连接有多根支撑脚,所述测试箱中分为第一测试腔、第二测试腔、第三测试腔和第四测试腔,所述测试箱上设有多个封门组件,多个所述封门组件分别处于第一测试腔、第二测试腔、第三测试腔和第四测试腔的一侧,所述第一测试腔中设有移动组件,所述测试箱上连接有收集组件,所述测试箱上连接有过渡组件,所述过渡组件的一端穿过测试箱的侧壁并延伸至第一测试腔中。本发明中工作人员可以通过一个装置对设备进行雨水冲击、雷电电击、高温和低温环境的测试,不需要
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117169618A
(43)申请公布日2023.12.05
(21)申请号202310931836.2
(22)申请日2023.07.27
(71)申请人深圳安车昇辉检测技术有限公司
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