锻件与铸件超声检测.pptxVIP

锻件与铸件超声检测 第一页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 锻件金相低倍图 第二页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 锻件金相低倍图 第三页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 8. 1.2 检测方法概述 ■ 检测方法： 采用接触法或水浸法 。可应用较高的检测频率 ， 以满 足高分辨力检测要求和实现对较小尺寸缺陷检测的目的。 ■ 声束入射面和入射方向选择： 考虑锻造变形工艺和流线方向， 应尽可能使超声声束方向与锻造流线方向垂直。 ■ 检测时机： 原则上应选择在热处理后 ， 冲孔 、开槽等精加工之 前进行。 ■ 检测技术： 纵波直入射检测 、纵波斜入射检测 、横波检测。 第四页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 1. 轴类锻件的检测方法 锻造工艺以拔长为主 ， 缺陷取向大部分与轴线平行， 并会有其他的分布及取向。 ■ 检测方法： （ 1） 直探头径向和轴向检测； （2） 斜探头周向及轴向检测。 第五页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 2. 饼类、碗类锻件的检测 锻造工艺以镦粗为主 ， 缺陷取向以平行于端面分布 为主。 ■ 检测方法： 用直探头在端面检测 。对于重要件或厚度大 的锻件 ， 应从两个端面进行检测 ， 有时需从外圆面进行 径向检测。 第六页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 3. 筒形或环形锻件的检测 锻造工艺是先镦粗 ， 后冲孔 ， 再滚压 。缺陷的取向复杂。 ■ 检测方法： （ 1） 直探头从筒体外圆面或端面检测； （2） 双晶探头从筒体外圆面或端面检测； （3） 斜探头轴向和周向检测。 第七页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 8. 1.3 检测条件的选择 1 . 探头的选择 纵波直入射法选用单晶直探头 ， 频率和晶片尺寸与被检材料有关 。 ■ 单晶直探头： a . 低碳钢或低合金钢： 检测频率2～5MHz ， 晶片尺寸Φ 14mm~Φ25mm。 b . 奥氏体钢： 检测频率0 .2～2 MHz ， 晶片尺寸Φ14mm~Φ30mm 。 ■ 双晶探头： 频率5MHz。 ■ 横波斜探头： 折射角K= 1 .0 。 2 . 耦合选择 ■ 检测面要求： 表面粗糙度Ra≤ 6 . 3 μm ， 表面平整均匀 ， 无划伤 、 油垢 、污物 氧化皮 、 油漆等 。 ■ 耦合损失补偿： 在试块上调节检测灵敏度时 ， 注意补偿试块与工件之间 因曲率半径和表面粗糙度不同引起的耦合损失。 ■ 耦合剂： 常用机油 、糨糊 、甘油等 ， 表面较粗糙时选用黏度更大的水玻璃 ■ 水浸法检测 ， 对表面粗糙度的要求低于接触法 。 第八页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 3 . 纵波直入射法检测面的选择 原则上应从两个相互垂直的方向进行检测 。并尽可能地检测到锻件的全体 第九页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 积。 4 .材质衰减系数的测定 参见 6 . 4 . 1 节 4 . 5 .试块选择 根据探头和检测面的情况选择试块 。 单晶直探头检测： 采用CS Ⅰ标准试块； 双晶直探头检测： 工件检测距离小于45mm时， 采用CSⅡ标准试块 。 曲面检测面： 采用CSⅢ标准试块测定因曲率不同引起的耦耦合损失 。 第十页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 8. 1.4 扫描速度和灵敏度的调节 1. 扫描速度的调节 在试块上或在锻件上已知尺寸的部位上调节扫描速度 。 2 . 检测灵敏度的调节 扫查灵敏度不低于最大检测距离处的Φ2mm平底孔当量直径 。 （ 1） 底波调节法 应用条件 : 锻件的被探部位厚度x≥3N， 且具有平行底面或圆柱曲底面 。 1） 计算： a . 大平底或实心圆柱体底面 ， 同距离 处底波与平底孔回波的分贝差为： b . 空心圆柱体 ， 同距离处圆柱曲 底面与平底孔回波分贝差为： 2） 基准灵敏度的调节： 探头对准完好区的底面 ， 调“增益 ”使底 波B1达到基准高 ， 然后用 “衰减器 ”增 扫查灵敏度 :在基准灵敏度的基础 益 ΔdB 。 上提高5～10dB。 第十一页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 ■ 注意 第十二页 ，共二十一页 ，2022年 ，8月28日 2 . 缺陷大小的测定 （ 1） 当量法： 缺陷尺寸小于声束截面。 a . 当量计算法 、 当量AVG曲线法： 缺陷位于x≥3N区域内； b . 试块比较法： 缺陷位于x＜3N区域内。 （ 2 ）测长法： 缺陷尺寸大于声束截面。 a. 6dB法： 扫查过程中缺陷反射波只有一个高点情况； b .